[发明专利]X射线分析装置有效

专利信息
申请号: 200710142498.5 申请日: 2007-08-27
公开(公告)号: CN101137265A 公开(公告)日: 2008-03-05
发明(设计)人: 佐佐木明登;栗林文;森川惠一;西邦夫;大原孝夫;加藤寿之;辻优司 申请(专利权)人: 株式会社理学
主分类号: H05G1/58 分类号: H05G1/58
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 李香兰
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 射线 分析 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及使操作员的测量准备作业变得容易的X射线分析装置。

背景技术

以往,在对样品实施X射线衍射测量时,测量条件的设定作业是必要的,但是该设定作业对于X射线衍射测量不熟练的操作员来说是不容易的。图20是以往的X射线衍射装置的条件设定画面的一例。从该画面可看出,设定项目较多,并且对各项目选择适当的条件或者输入适当的数值是不容易的作业。

作为使这样的条件设定作业变得容易的装置,已知有如下的专利文献1所记载的X射线衍射定性分析装置。

该专利文献1所记载的X射线衍射定性分析装置,显示有关测量环境的质问并接收来自操作员的回答且使用基础知识来推理测量条件。由此,不管是谁都能容易地设定测量条件。

在设定测量条件时,与此相伴有时必须进行交换光学部件的作业。此时,装置自身能识别光学部件的安装状况,即可将所安装的光学部件的有关信息通知操作员。关于该点具有关联的以往技术,在如下的专利文献2所记载的放射线治疗装置中,就能识别安装于装置中的准直仪的种类。

该专利文献2所记载的放射线治疗装置,预先准备种类不同的多个准直仪,当将操作员选择的准直仪安装到支架上,操作员可以从支架的外部目视出安装了哪个准直仪。进一步,通过使用光传感器,装置能取得有关准直仪的种类的信息。基于该信息,对所安装的准直仪是否正确通过计算机进行管理,当安装有错误的准直仪就发出警告。

专利文献1的X射线衍射定性分析装置具备测量条件的设定相关的制导功能,但是不涉及光学部件的交换作业。该X射线衍射装置是仅以定性分析为目的的装置,无需交换光学部件而能设定测量条件。即,可认为发散隙缝和空气散射防止隙缝和检测隙缝均为可变的隙缝,根据测量条件改变隙缝宽度就足够。从而,如与测量条件的设定关联而与光学部件的交换作业连动且正确完成测量准备作业那样的功能没有公开。另外,专利文献2的放射线治疗装置可判别安装后的准直仪的种类并发出警告,但是将测量条件的设定相关的制导功能和准直仪的交换作业建立关联的情况并没有公开。

专利文献1:特开平6-74923号公报

专利文献2:特开平8-155045号公报

发明内容

本发明的目的在于,提供一种将测量种类的选择和光学部件的交换作业建立关联而使测量准备作业变得容易的X射线分析装置。

本发明的X射线分析装置,具备:(1)装置主体,包括用于对样品进行X射线分析的光学系统;(2)显示装置,将所述装置主体相关的信息显示在画面上;(3)选择画面显示部件,将可从多个测量种类中选择出测量种类的选择画面显示在所属显示装置上;(4)测量种类取得部件,取得在所述选择画面中操作员所选择的测量种类;(5)对应关系存储部件,针对多个测量种类,存储有测量种类和该测量种类所应使用的光学部件之间的对应关系;(6)传感器,对安装于所述装置主体的光学部件的种类进行识别检测;和(7)作业指示部件,针对由所述测量种类取得部件所取得的测量种类,基于存储在所述对应关系存储部件中的所述对应关系,取得与该测量种类对应的光学部件的种类,将该所取得的光学部件的种类和由所述传感器所检测出的光学部件的种类进行比较,对于不一致的光学部件,将应安装于所述装置主体的光学部件及应从所述装置主体卸下的光学部件的至少一方的信息利用绘图显示在所述显示装置上。

所述作业指示部件,作为优选,将应安装的光学部件或应卸下的光学部件的名称显示在所述显示装置上,并且将该光学部件的所述光学系统上的位置图示在所述显示装置上。进一步,作为优选,将光学部件分类为多个项目,在属于同一项目的多个光学部件之间进行光学部件的交换,对各光学部件赋予用于识别该项目的识别标记,所述作业指示部件,在将应安装于所述装置主体的光学部件或应从所述装置主体卸下的光学部件显示在所述显示装置之际,显示赋予其光学部件的所述识别标记。

根据本发明,将测量种类的选择功能和光学部件的交换作业建立关联,因此操作员通过选择画面来选择测量种类,即可易于得知执行该测量种类所需的光学部件的交换作业,根据其作业指示画面,能执行光学部件的交换作业。尤其将应交换的光学部件的信息利用绘图显示在画面上,因此易于得知光学部件的安装位置和光学部件的种类。于是,在安装了错误的光学部件时,由于显示出应交换为正确的光学部件的作业指示,因此能防止光学部件的安装失误。

附图说明

图1(a)是表示本发明的X射线分析装置的一实施例的光学系统的配置例的立体图。

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