[发明专利]X射线分析装置有效
| 申请号: | 200710142498.5 | 申请日: | 2007-08-27 |
| 公开(公告)号: | CN101137265A | 公开(公告)日: | 2008-03-05 |
| 发明(设计)人: | 佐佐木明登;栗林文;森川惠一;西邦夫;大原孝夫;加藤寿之;辻优司 | 申请(专利权)人: | 株式会社理学 |
| 主分类号: | H05G1/58 | 分类号: | H05G1/58 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 李香兰 |
| 地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 射线 分析 装置 | ||
1.一种X射线分析装置,具备:
装置主体,包括用于对样品进行X射线分析的光学系统;
显示装置,将所述装置主体相关的信息显示在画面上;
选择画面显示部件,将可从多个测量种类中选择出期望的测量种类的选择画面显示在所述显示装置上;
测量种类取得部件,取得在所述选择画面中操作员所选择的测量种类;
对应关系存储部件,针对所述多个测量种类,存储有测量种类和该测量种类所应使用的光学部件之间的对应关系;
传感器,对安装于所述装置主体的光学部件的种类进行识别检测;和
作业指示部件,针对由所述测量种类取得部件所取得的测量种类,基于存储在所述对应关系存储部件中的所述对应关系,取得与该测量种类对应的光学部件的种类,将该所取得的光学部件的种类和由所述传感器所检测出的光学部件的种类进行比较,对于不一致的光学部件,将应安装于所述装置主体的光学部件及应从所述装置主体卸下的光学部件的至少一方的信息利用绘图显示在所述显示装置上。
2.根据权利要求1所述的X射线分析装置,其特征在于,
所述作业指示部件,将应安装的光学部件或应卸下的光学部件的名称显示在所述显示装置上,并且将该光学部件在所述光学系统上的位置图示在所述显示装置上。
3.根据权利要求1或2所述的X射线分析装置,其特征在于,
所述作业指示部件,将光学部件的安装作业和卸下作业进行区别并且以绘图方式图示在所述显示装置上。
4.根据权利要求1~3任一项所述的X射线分析装置,其特征在于,
该X射线分析装置中使用的光学部件被分类为多个项目,在属于同一项目的多个光学部件之间进行光学部件的交换,对各光学部件赋予用于识别该项目的识别标记,所述作业指示部件,在将应安装于所述装置主体的光学部件或应从所述装置主体卸下的光学部件显示在所述显示装置之际,显示赋予该光学部件的所述识别标记。
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