[发明专利]半导体芯片及集成电路结构有效
申请号: | 200710141326.6 | 申请日: | 2007-08-06 |
公开(公告)号: | CN101286483A | 公开(公告)日: | 2008-10-15 |
发明(设计)人: | 王建荣;林建宏 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/00 | 分类号: | H01L23/00;H01L23/31;H01L27/02 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈晨 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种半导体芯片及集成电路结构。该半导体芯片包括一密封环、一开口及一水气挡块;密封环邻接于半导体芯片的边缘;开口从密封环的一顶面延伸至密封环的一底面;开口具有一第一端及一第二端;第一端位于密封环的一外侧上,以及第二端位于密封环的一内侧上;水气挡块具有一侧壁;侧壁平行于密封环的一最近侧;水气挡块邻接于密封环,并且具有面对开口的一部分。本发明的特点在于中断的密封环可降低噪声耦合,以及通过延伸水气行进路径和/或水气挡块的成型来降低水气穿透。 | ||
搜索关键词: | 半导体 芯片 集成电路 结构 | ||
【主权项】:
1.一种半导体芯片,包括:一密封环,邻接于该半导体芯片的边缘;一开口,从该密封环的一顶面延伸至该密封环的一底面,其中,该开口具有一第一端及一第二端,该第一端位于该密封环的一外侧上,以及该第二端位于该密封环的一内侧上;以及一水气挡块,具有一侧壁,其中,该侧壁平行于该密封环的一最近侧,以及该水气挡块邻接于该密封环,并且具有面对该开口的一部分。
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