[发明专利]蚀刻装置和蚀刻方法无效
申请号: | 200710138606.1 | 申请日: | 2007-07-24 |
公开(公告)号: | CN101114122A | 公开(公告)日: | 2008-01-30 |
发明(设计)人: | 崔浩根;金龙佑 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G03F7/00 | 分类号: | G03F7/00;G02F1/1333;H01L21/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波;马高平 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明提供一种蚀刻装置和蚀刻方法,其中施加在基板上的压力被最小化,且基板的整个表面在蚀刻工艺期间被均匀地施压。基板的破损被防止,且基板被均匀地蚀刻。因此,基板的厚度可被减小。 | ||
搜索关键词: | 蚀刻 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种蚀刻装置,包括:具有一空间的蚀刻轨,至少一个目标物通过该空间移动,其中该空间含有蚀刻溶液以蚀刻在该空间中的该目标物,且该蚀刻轨相对于地面的斜率是可调的;以及溶液供应器,其提供蚀刻溶液到该蚀刻轨。
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