[发明专利]磁记录介质、磁记录装置及制造磁记录介质的方法无效

专利信息
申请号: 200710137983.3 申请日: 2007-03-26
公开(公告)号: CN101079271A 公开(公告)日: 2007-11-28
发明(设计)人: 白鸟聪志;樱井正敏;喜喜津哲;镰田芳幸;木村香里 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: G11B5/84 分类号: G11B5/84;G11B5/72
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 杨晓光;李峥
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种磁记录介质,包括:环形基底(11),其表面分成位于外圆周边缘与内圆周边缘之间的中央部分的记录区域(21)、位于分别从外和内圆周边缘开始的100μm或更大和2,000μm或更小的范围之内的边缘区域(23、25),以及分别位于各边缘区域(23、25)和记录区域(21)之间的相邻区域(22、24),基底(11)上的磁性膜(12),以及磁性膜(12)上的保护膜(13),其中边缘区域(23、25)的磁性膜(12)比相邻区域(22、24)的磁性膜薄,以及边缘区域(23、25)的保护膜(13)的至少一部分比相邻区域(22、24)的保护膜厚。
搜索关键词: 记录 介质 装置 制造 方法
【主权项】:
1.一种磁记录介质,包括:环形基底(11),其表面分成位于外圆周边缘与内圆周边缘之间的中央部分的记录区域(21)、位于分别从外和内圆周边缘开始的100μm或更大和2,000μm或更小的范围之内的边缘区域(23、25),以及分别位于各边缘区域(23、25)和记录区域(21)之间的相邻区域(22、24);所述基底(11)上的磁性膜(12);以及所述磁性膜(12)上的保护膜(13),其特征在于在所述边缘区域(23、25)的所述磁性膜(12)比所述相邻区域(22、24)的所述磁性膜更薄,以及在所述边缘区域(23、25)的所述保护膜(13)的至少一部分比所述相邻区域(22、24)的所述保护膜更厚。
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