[发明专利]用于处理扁平、易碎基体的装置无效
| 申请号: | 200710136147.3 | 申请日: | 2007-07-19 |
| 公开(公告)号: | CN101110350A | 公开(公告)日: | 2008-01-23 |
| 发明(设计)人: | T·科西科夫斯基 | 申请(专利权)人: | 霍尔穆勒机械制造有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/67;H01L21/687;H01L21/677;B65G49/05;B65G49/06;B65G49/07 |
| 代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 吴鹏;马江立 |
| 地址: | 德国黑*** | 国省代码: | 德国;DE |
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| 摘要: | 本发明涉及一种用于处理扁平、易碎基体(2)的装置(1),其中,所述基体(2)在一处理腔中由处理液(14)加载作用。为此所述基体由输送装置(3)沿多个相互平行的轨迹引导水平穿行通过所述处理腔。至少一个对置保持装置(7、22)作用在基体(2)朝上的一侧上,并防止基体从输送装置(3)上抬起。为此将多个对置保持元件(7)这样固定在一共同的、跨越在不同轨迹上的轴(22)上,即,所述对置保持元件沿垂直方向可以相互独立地运动,并且能够在基体(2)上施加与基体的厚度基本上无关的压力。 | ||
| 搜索关键词: | 用于 处理 扁平 易碎 基体 装置 | ||
【主权项】:
1.一种用于处理特别是用于半导体工业和太阳能工业的扁平、易碎基体的装置,包括:a)一处理腔,在该处理腔中可利用处理液对基体进行加载作用;b)一输送装置,利用该输送装置可以按多个相互平行的轨迹引导所述基体水平地穿行通过处理腔;c)至少一个对置保持装置,所述对置保持装置作用在基体朝上的一侧上,防止其从输送装置上抬起,并包括一贯通全长的、跨越在多个轨迹上的轴,所述轴上固定有多个对置保持元件,其特征在于,d)所述对置保持装置(7、22;107、122;207、222)设计成,使各对置保持元件(7;107;207)沿垂直方向可相互独立地运动并由此能够在基体(2;102;202)上施加与基体的厚度基本上无关的压力。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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