[发明专利]半导体集成电路有效
申请号: | 200710111909.4 | 申请日: | 2007-06-20 |
公开(公告)号: | CN101093243A | 公开(公告)日: | 2007-12-26 |
发明(设计)人: | 山崎竜彦 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R31/3185;G06F11/22 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 秦晨 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种半导体集成电路,包括:检测模式判定电路,当从复位状态输入时钟以及通过使用用于扫描检测的扫描允许信号来起动操作时,其判断正常操作模式或检测模式,并且保持判定结果,直到判定结果被复位;扫描允许掩蔽电路,其根据判定结果信号禁止扫描允许信号发送到内部扫描电路;以及访问控制单元,其根据从检测模式判定电路输出的判定结果信号禁止对内部存储单元的访问。此外,半导体集成电路具有公共使用扫描允许信号和正常操作输入信号的配置。 | ||
搜索关键词: | 半导体 集成电路 | ||
【主权项】:
1.一种半导体集成电路,其具有使用扫描电路操作内部逻辑电路的正常操作模式以及使用扫描电路检测内部逻辑电路的扫描检测模式,包括:模式判定电路,其接收用于控制正常操作模式的数据和扫描检测模式的数据中的哪一个应当被输入到扫描电路的信号,并且依据接收的信号发送对应于正常操作模式或扫描检测模式的判定信号;以及掩蔽电路,其通过执行与在模式判定电路中接收的信号相同的信号与所述判定信号的逻辑操作来控制判定信号到扫描电路中的输入,其中模式判定电路输出判定信号而即使模式判定电路中接收的信号的逻辑电平被改变也不改变判定。
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