[发明专利]用以提升存储器装置的可靠度的系统及其方法有效
| 申请号： | 200710110757.6 | 申请日： | 2007-06-11 |
| 公开（公告）号： | CN101086899A | 公开（公告）日： | 2007-12-12 |
| 发明（设计）人： | 谢祯辉;陈昆龙;庄建祥;古哥利 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用以提升存储器装置的可靠度的系统及其方法，该存储器装置中包括一或多个存储器区块，每一所述存储器区块具有一或多个主存储器单元列以及一或多个备用存储器单元列。至少一内建自我测试单元耦接至所述存储器区块，用以测试所述备用存储器单元列以判断其相对应的品质标准，并测试所述主存储器单元列以辨别出未通过一既定品质标准的主存储器单元列。至少一内建自我修复单元耦接至内建自我测试单元，用以利用一具有一等于或高于该既定品质标准的品质标准的备用存储器单元列取代故障的该主存储器单元列。其中，BIST单元重复地测试所述主存储器单元列多次，并于每一次使用一不同的品质标准测试。本发明可提升存储器装置的可靠度。 | ||
| 搜索关键词： | 用以 提升 存储器 装置 可靠 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用以提升存储器装置的可靠度的系统，其特征在于，包括：一或多个存储器区块，其中每一所述存储器区块具有一或多个主存储器单元列以及一或多个备用存储器单元列；至少一内建自我测试单元，耦接至所述存储器区块，用以测试所述备用存储器单元列以判断其相对应的品质标准，并测试所述主存储器单元列以辨别出未通过一既定品质标准的主存储器单元列；以及至少一内建自我修复单元，耦接至该内建自我测试单元，用以利用一具有一等于或高于该既定品质标准的品质标准的备用存储器单元列取代故障的该主存储器单元列，其中该内建自我测试单元重复地测试所述主存储器单元列多次，并且于每一次使用一不同的品质标准测试。
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