[发明专利]用以提升存储器装置的可靠度的系统及其方法有效
申请号: | 200710110757.6 | 申请日: | 2007-06-11 |
公开(公告)号: | CN101086899A | 公开(公告)日: | 2007-12-12 |
发明(设计)人: | 谢祯辉;陈昆龙;庄建祥;古哥利 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/12 | 分类号: | G11C29/12;G11C29/44 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用以 提升 存储器 装置 可靠 系统 及其 方法 | ||
1.一种用以提升存储器装置的可靠度的系统,其特征在于,包括:
一或多个存储器区块,其中每一所述存储器区块具有一或多个主存储器单元列以及一或多个备用存储器单元列;
至少一内建自我测试单元,耦接至所述存储器区块,用以测试所述备用存储器单元列以判断其相对应的电荷储存时间,并测试所述主存储器单元列以辨别出未通过一既定电荷储存时间的主存储器单元列;以及
至少一内建自我修复单元,耦接至该内建自我测试单元,用以利用一具有一等于或高于该既定电荷储存时间的电荷储存时间的备用存储器单元列取代未通过该既定电荷储存时间的该主存储器单元列,
其中该内建自我测试单元重复地测试所述主存储器单元列多次,并且于每一次使用一不同的电荷储存时间测试。
2.根据权利要求1所述的用以提升存储器装置的可靠度的系统,其特征在于,当辨别出未通过该既定电荷储存时间的该主存储器单元列时,该内建自我测试单元停止对所述主存储器单元列的测试。
3.根据权利要求1所述的用以提升存储器装置的可靠度的系统,其特征在于,更包括一或多个移位寄存器,其耦接至所述主存储器单元列,用以储存一或多个表示与其对应的备用存储器单元列的电荷储存时间的品质指标。
4.根据权利要求3所述的用以提升存储器装置的可靠度的系统,其特征在于,每一所述品质指标包括一串的位。
5.根据权利要求3所述的用以提升存储器装置的可靠度的系统,其特征在于,该内建自我修复单元通过将未通过该既定电荷储存时间的该主存储器单元列的一地址储存在与其对应的该备用存储器单元列有关的该移位寄存器中,以利用未通过该既定电荷储存时间的该主存储器单元列所对应的该备用存储器单元列取代未通过该既定电荷储存时间的该主存储器单元列。
6.根据权利要求5所述的用以提升存储器装置的可靠度的系统,其特征在于,该内建自我修复单元通过移位所述移位寄存器的逻辑位置,以储存未通过该既定电荷储存时间的该主存储器单元列的该地址,用以使该内建自我修复单元可将该地址载入到与未通过该既定电荷储存时间的该主存储器单元列所对应的该备用存储器单元列有关的该移位寄存器中。
7.根据权利要求6所述的用以提升存储器装置的可靠度的系统,其特征在于,更包括至少一储存模块,其耦接至该内建自我修复单元,用以永久地储存所述移位寄存器的值。
8.一种用以提升存储器装置的可靠度的方法,其特征在于,该存储器装置具有多个主存储器单元列以及备用存储器单元列,其包括下列步骤:
测试所述备用存储器单元列以判断其对应的电荷储存时间;
第一次测试所述主存储器单元列,以辨别出未通过一第一既定电荷储存时间的一第一主存储器单元列;
第一次以一第一备用存储器单元列取代未通过该第一既定电荷储存时间的该第一主存储器单元列,其中该第一备用存储器单元列具有一等于或高于该第一既定电荷储存时间的电荷储存时间;
第二次测试所述主存储器单元列,以辨别出未通过一第二既定电荷储存时间的一第二主存储器单元列,其中该第二既定电荷储存时间高于该第一既定电荷储存时间;以及
第二次以一第二备用存储器单元列取代未通过该第二既定电荷储存时间的该第二主存储器单元列,其中该第二备用存储器单元列具有一等于或高于该第二既定电荷储存时间的电荷储存时间。
9.根据权利要求8所述的用以提升存储器装置的可靠度的方法,其特征在于,该测试所述备用存储器单元列的步骤更包括:
将一或多个品质指标储存在多个移位寄存器中,其中该品质指标表示其对应的一备用存储器单元列的该电荷储存时间。
10.根据权利要求9所述的用以提升存储器装置的可靠度的方法,其特征在于,每一所述品质指标包括一串的位。
11.根据权利要求9所述的用以提升存储器装置的可靠度的方法,其特征在于,该第一次测试所述主存储器单元列的步骤辨别出未通过该第一既定电荷储存时间的该第一主存储器单元列后停止,以及该第二次测试所述主存储器单元列的步骤辨别出未通过该第二既定电荷储存时间的该第二主存储器单元列后停止。
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