[发明专利]集成电路设计决定标准单元的方法有效

专利信息
申请号: 200710108888.0 申请日: 2007-06-05
公开(公告)号: CN101320395A 公开(公告)日: 2008-12-10
发明(设计)人: 钱达生;王建国;许振贤;王伟任 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 蒲迈文;黄小临
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 集成电路设计流程包含设计RTL、逻辑合成、自动配置/绕线及布局,集成电路设计者可根据每一标准单元的时间、面积以及最佳单元指针来选择合适的标准单元于集成电路中。再者,产生最佳单元指针的步骤包含产生每一标准单元在多个环境状态的关键尺寸,产生多个对应于该多个环境状态的电路参数,计算该多个电路参数与该标准单元在理想状态的电路参数的差值,以及分析差值的分布。
搜索关键词: 集成电路设计 决定 标准 单元 方法
【主权项】:
1.一种集成电路设计决定标准单元的方法,包含:提供多个功能相同的标准单元;产生每一标准单元于多个环境状态的关键尺寸数据;根据每一标准单元于该多个环境状态的关键尺寸数据,产生多个对应于该多个环境状态的电路参数;将每一标准单元的多个电路参数与该标准单元于一理想状态的电路参数相减,以产生多个电路参数的差值;计算每一标准单元的多个电路参数的差值的分布,以产生每一标准单元的最佳单元指针;以及根据每一标准单元的最佳单元指针,由该多个功能相同的标准单元中选择一标准单元于该集成电路中。
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