[发明专利]集成电路设计决定标准单元的方法

权利要求书

1.一种集成电路设计决定标准单元的方法，包含：

提供多个功能相同的标准单元；

产生每一标准单元于多个环境状态的关键尺寸数据；

根据每一标准单元于该多个环境状态的关键尺寸数据，产生多个对应于该多个环境状态的电路参数；

将每一标准单元的多个电路参数与该标准单元于一理想状态的电路参数相减，以产生多个电路参数的差值；

计算每一标准单元的多个电路参数的差值的分布，以产生每一标准单元的最佳单元指针；以及

根据每一标准单元的最佳单元指针，由该多个功能相同的标准单元中选择一标准单元于该集成电路中。

2.如权利要求1所述的方法，其中提供该多个功能相同的标准单元是提供该多个功能相同但布局面积不同的标准单元。

3.如权利要求1所述的方法，其中计算每一标准单元的多个电路参数的差值的分布，以产生每一标准单元的最佳单元指针是计算每一标准单元的多个电路参数的差值的分布的集中程度，以产生每一标准单元的最佳单元指针。

4.如权利要求1所述的方法，其中根据每一标准单元的最佳单元指针，由该多个功能相同的标准单元中选择一标准单元于该集成电路中是根据每一标准单元的最佳单元指针的权重或优先级，由该多个功能相同的标准单元中选择一标准单元于该集成电路中。

5.如权利要求1所述的方法，其中根据每一标准单元于该多个环境状态的关键尺寸数据，产生该多个对应于该多个环境状态的电路参数是根据每一标准单元于该多个环境状态的关键尺寸数据，产生该多个对应于该多个环境状态的时间数据。

6.如权利要求5所述的方法，其中计算每一标准单元的多个电路参数的差值的分布，以产生每一标准单元的最佳单元指针是计算每一标准单元的多个时间数据的差值的分布，定义Y为时间数据的差值的最大计数，N为时间数据的差值的总数，X为时间数据的差值的范围，以产生每一标准单元的最佳单元指针(Y/N)/X。

7.如权利要求1所述的方法，其中根据每一标准单元于该多个环境状态的关键尺寸数据，产生该多个对应于该多个环境状态的电路参数是根据每一标准单元于该多个环境状态的关键尺寸数据，产生该多个对应于该多个环境状态的功率数据。

8.如权利要求7所述的方法，其中计算每一标准单元的多个电路参数的差值的分布，以产生每一标准单元的最佳单元指针是计算每一标准单元的多个功率数据的差值的分布，定义Y为功率数据的差值的最大计数，N为功率数据的差值的总数，X为功率数据的差值的范围，以产生每一标准单元的最佳单元指针(Y/N)/X。

9.一种集成电路设计决定标准单元的方法，包含：

提供多个功能相同的标准单元；

根据每一标准单元的面积大小，产生一第一指标；

根据每一标准单元的时间值，产生一第二指标；

根据每一标准单元于多个环境状态的关键尺寸数据，产生一第三指标；

决定该第一指标、该第二指标以及该第三指标的权重以及优先级；以及

根据该第一指标、该第二指标以及该第三指标的权重或优先级，由该多个功能相同的标准单元中选择一标准单元于该集成电路中。

10.如权利要求9所述的方法，其中提供该多个功能相同的标准单元是提供该多个功能相同但布局面积大小不同的标准单元。

11.如权利要求9所述的方法，其中根据每一标准单元于多个环境状态的关键尺寸数据，产生该第三指标包含：

产生每一标准单元于该多个环境状态的关键尺寸数据；

根据每一标准单元于该多个环境状态的关键尺寸数据，产生多个对应于该多个环境状态的时间数据；

将每一标准单元的多个时间数据与该标准单元于该理想状态的时间数据相减，以产生该多个时间数据的差值；以及

计算每一标准单元的多个时间数据的差值的分布，以产生每一标准单元的第三指针。

12.如权利要求11所述的方法，其中计算每一标准单元的多个时间数据的差值的分布，以产生每一标准单元的第三指针是计算每一标准单元的多个时间数据的差值的分布，定义Y为时间数据的差值的最大计数，N为时间数据的差值的总数，X为时间数据的差值的范围，以产生每一标准单元的第三指针(Y/N)/X。