[发明专利]适用于解决光罩沉积物缺陷的方法与装置有效
| 申请号: | 200710079429.4 | 申请日: | 2007-03-12 |
| 公开(公告)号: | CN101063806A | 公开(公告)日: | 2007-10-31 |
| 发明(设计)人: | 戴逸明 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号: | G03F1/14 | 分类号: | G03F1/14;G03F1/00;G03F7/20;H01L21/00 |
| 代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
| 地址: | 台湾省新竹市新*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | 本发明是有关于一种适用于解决光罩沉积物缺陷的方法与装置,其是将一气体导入一光罩装置中,以使沉积物缺陷藉由气涤清洗方式扩散排出光罩装置外;一金属遮蔽装置将光罩装置围绕容置于其中,用以减少对光罩上的沉积物缺陷以及光罩的损害;在一实施例中,金属遮蔽装置包含有一上方金属遮蔽体、光罩装置的一护膜结构、该光罩装置的复数侧支撑架、一上盖、一把手以及一把手盖体。本发明结合使用气涤清洁与金属遮蔽帮助解决沉积物缺陷问题及静电放电的损害,将不洁物的成长与沉积降至最低以解决沉积物缺陷问题,而可减少光罩在清洗后,光罩重复使用缺陷、光罩清洁频率以及光罩尺寸损耗等。此外,由于同一组光罩能制造更多晶圆而可提升光罩生产力,减少重工制造光罩。 | ||
| 搜索关键词: | 适用于 解决 沉积物 缺陷 方法 装置 | ||
【主权项】:
1、一种减少光罩中缺陷的方法,其中,光罩是设置于一光罩装置中,其特征在于该方法至少包含以下步骤:将一气体扩散至该光罩装置中;利用该气体气涤(purging)清洁,以去除一光罩上的沉积物缺陷;以及提供一金属遮蔽装置,该金属遮蔽将该光罩装置围绕容置于其中,以减少对该光罩的沉积物缺陷。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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