[发明专利]适用于解决光罩沉积物缺陷的方法与装置有效

专利信息
申请号: 200710079429.4 申请日: 2007-03-12
公开(公告)号: CN101063806A 公开(公告)日: 2007-10-31
发明(设计)人: 戴逸明 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: G03F1/14 分类号: G03F1/14;G03F1/00;G03F7/20;H01L21/00
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 台湾省新竹市新*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明是有关于一种适用于解决光罩沉积物缺陷的方法与装置,其是将一气体导入一光罩装置中,以使沉积物缺陷藉由气涤清洗方式扩散排出光罩装置外;一金属遮蔽装置将光罩装置围绕容置于其中,用以减少对光罩上的沉积物缺陷以及光罩的损害;在一实施例中,金属遮蔽装置包含有一上方金属遮蔽体、光罩装置的一护膜结构、该光罩装置的复数侧支撑架、一上盖、一把手以及一把手盖体。本发明结合使用气涤清洁与金属遮蔽帮助解决沉积物缺陷问题及静电放电的损害,将不洁物的成长与沉积降至最低以解决沉积物缺陷问题,而可减少光罩在清洗后,光罩重复使用缺陷、光罩清洁频率以及光罩尺寸损耗等。此外,由于同一组光罩能制造更多晶圆而可提升光罩生产力,减少重工制造光罩。
搜索关键词: 适用于 解决 沉积物 缺陷 方法 装置
【主权项】:
1、一种减少光罩中缺陷的方法,其中,光罩是设置于一光罩装置中,其特征在于该方法至少包含以下步骤:将一气体扩散至该光罩装置中;利用该气体气涤(purging)清洁,以去除一光罩上的沉积物缺陷;以及提供一金属遮蔽装置,该金属遮蔽将该光罩装置围绕容置于其中,以减少对该光罩的沉积物缺陷。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710079429.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top