[发明专利]自动测试线性指针式仪表并记录处理的方法无效
| 申请号： | 200710036256.8 | 申请日： | 2007-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN101221055A | 公开（公告）日： | 2008-07-16 |
| 发明（设计）人： | 苏丽芳 | 申请（专利权）人： | 苏丽芳 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00;G12B13/00 |
| 代理公司： | 上海天协和诚知识产权代理事务所 | 代理人： | 张恒康 |
| 地址： | 201110上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种自动测试线性指针式仪表并记录处理的方法，它包括所述仪表的测试仪，所述测试仪包括传感器(1)，所述传感器经信号放大处理及变送(2)输入中央处理器(3)，所述中央处理器还连接一个人工输入装置(5)及显示装置(7)、一个用于储存各测试数据的存储器(8)以及一个数据输出接口(9)，所述方法包括下述步骤：步骤一，根据测试品的指示值，调整到正好测试品的所要检验的校验点值大小，即测试品的指针正好指在校验点值P校验N；步骤二，按测试命令键，此时测试仪将自动记录当前传感器的P测试点N值；步骤三，根据测试仪传感器的线性关系，自动对所测试的P测试点N值进行修正，并对该测试结果进行存储。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 测试 线性 指针 仪表 记录 处理 方法 | ||
【主权项】：
1.一种自动测试线性指针式仪表并记录处理的方法，它包括自动记录处理一体化指针式仪表测试仪，所述测试仪包括传感器，所述传感器经信号放大处理及变送输入中央处理器，所述中央处理器还连接个人工输入装置及显示装置，所述中央处理器还连接有一个用于储存各测试数据的存储器以及一个数据输出接口，其特征在于，所述方法包括下述步骤：步骤一，根据测试品的指针，观察测试品的指示值，调整到正好测试品的所要检验的校验点值大小，即测试品的指针正好指在校验点值P校验N；步骤二，按测试命令键，此时测试仪将自动记录当前传感器的P测试点N值；步骤三，根据测试仪传感器的线性关系，自动对所测试的P测试点N值进行修正，并对该测试结果进行存储。
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