[发明专利]自动测试线性指针式仪表并记录处理的方法无效
申请号: | 200710036256.8 | 申请日: | 2007-01-08 |
公开(公告)号: | CN101221055A | 公开(公告)日: | 2008-07-16 |
发明(设计)人: | 苏丽芳 | 申请(专利权)人: | 苏丽芳 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00;G12B13/00 |
代理公司: | 上海天协和诚知识产权代理事务所 | 代理人: | 张恒康 |
地址: | 201110上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 测试 线性 指针 仪表 记录 处理 方法 | ||
技术领域
本发明涉及指针式仪表的测试方法,具体地,涉及一种具有线性关系的指针式仪表测试方法。
背景技术
在各行业中,人们大量使用各种指针式仪表,如化工、电力、冶金、供水等部门广泛应用的压力表;又如电力部门、众多工厂广泛应用的电压表和电流表等上亿的仪表:压力表、电压表、电流表等。这些仪表都在各自岗位发挥着巨大的作用,促进了人类社会的快速发展。如何保证这些仪表的准确率,通俗讲就是其精度,即保证其系统可靠安全运行,已成为人们的重要任务和工作之一。因为这些仪表的性能好坏直接影响到其相关系统的可靠安全运行。安装于现场的各种仪表,经过一段时期后常出现动作不灵活的现象,有的还会出现性能变差,精度不准,当环境或其它条件变化时容易导致系统出现问题。这些指针式仪表都需要在一定的周期内对它们进行校对。如原电力部就制定DL/T596-1996《电力设备预防性试验规程》。该试验规程规定:各SF6电气开关使用单位应定期对SF6气体密度继电器和压力表进行校验。从实际运行情况来看,对这些仪表进行定期校验是防患于未然,保障相关设备安全可靠运行的必要手段之一。
目前校验这些仪表的方法只能利用传统方法进行校验,即利用精密表和被测试表间的读数比对方法,用这种方法存在的问题:难以测试准确,二需要把数据用笔记录下来,三如要处理数据,还需要人工或另行输入电脑才能进行处理,非常麻烦。例如我们如果要对一只压力表进行校验,其步骤如下:我们在测试仪上利用精密表和该所测试的压力表进行比对,所测试的该压力表的工作范围为0~1MPa,且其刻度间隔为0.1Mpa,那我们可以从0Mpa开始,每间隔0.1Mpa处对测试表进行校对直到1.0MPa,把精密表的压力值分别调到0Mpa、0.1Mpa、0.2Mpa、0.3Mpa、0.4Mpa、0.5Mpa、0.6Mpa、0.7MPa、0.8Mpa、0.9Mpa、1.0Mpa并用肉眼分别观察所测试的压力表的读数值,把该读数值记录下来或人工输入测试仪。人工记录一般采用表格的形式。然后根据所记录的测试数据,再通过人工或采用电脑计算误差值,根据其误差要求,再判断其是否合格。
从上述可知对这些仪表的校验只能利用传统方法进行校验难以测试准确,因为读数判断因人为因素,常会发生指针指在非刻度线上的情况,这全靠人来估读,不同的人常会有不同的结果;目前市场出现了一些能读数的测试仪表,消除了上述误差,但是,这些仪表种如要处理数据,则还要把数据用笔记录下来,通过人工或重新输入电脑才能进行处理,还是非常麻烦。
发明内容
本发明旨在解决现有技术的上述缺陷,提供测试、自动记录处理一体化指针式仪表测试仪的测试方法,不仅能自动测试读数,而且能把读数自动储存下来,并能利用储存下来的数据进行处理并显示,从而使得仪表校验工作方便快速。
本发明是这样实现的:一种自动测试线性指针式仪表并记录处理的方法,它包括自动记录处理一体化指针式仪表测试仪,所述测试仪包括传感器,所述传感器经信号放大处理及变送输入中央处理器,所述中央处理器还连接一个人工输入装置及显示装置,所述中央处理器还连接有一个用于储存各测试数据的存储器以及一个数据输出接口,所述方法包括下述步骤:
步骤一,根据测试品的指针,观察测试品的指示值,调整到正好测试品的所要检验的校验点值大小,即测试品的指针正好指在校验点值P校验N;
步骤二,按测试命令键,此时测试仪将自动记录当前传感器的P测试点N值;
步骤三,根据测试仪传感器的线性关系,自动对所测试的P测试点N值进行修正,并对该测试结果进行存储。
对P测试点N值进行修正的方法是:事先输入校验点值P校验N,根据该校验点值P校验N,其修正计算公式为:
P实际测试点N值=P校验N-(P实际测试点N值-P校验N)=2P校验N-P实际测试点N值。
所述对P测试点N值进行修正的方法是:根据四舍五入之方法,把测试值P测试点N进行四舍五入得到该测试品的校验点值P校验N;然后测试仪再自动对所测试的P测试点N进行修正,其修正计算公式为:P实际测试点N值=P校验N-(P实际测试点N值-P校验N)=2P校验N-P实际测试点N值。
测试仪可以自动计算出误差,其误差ΔP实际测试N=P实际测试点N值-P校验N。并可对该计算结果进行存储。
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