[发明专利]自动测试线性指针式仪表并记录处理的方法无效
申请号: | 200710036256.8 | 申请日: | 2007-01-08 |
公开(公告)号: | CN101221055A | 公开(公告)日: | 2008-07-16 |
发明(设计)人: | 苏丽芳 | 申请(专利权)人: | 苏丽芳 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00;G12B13/00 |
代理公司: | 上海天协和诚知识产权代理事务所 | 代理人: | 张恒康 |
地址: | 201110上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 测试 线性 指针 仪表 记录 处理 方法 | ||
1.一种自动测试线性指针式仪表并记录处理的方法,它包括自动记录处理一体化指针式仪表测试仪,所述测试仪包括传感器,所述传感器经信号放大处理及变送输入中央处理器,所述中央处理器还连接个人工输入装置及显示装置,所述中央处理器还连接有一个用于储存各测试数据的存储器以及一个数据输出接口,其特征在于,所述方法包括下述步骤:
步骤一,根据测试品的指针,观察测试品的指示值,调整到正好测试品的所要检验的校验点值大小,即测试品的指针正好指在校验点值P校验N;
步骤二,按测试命令键,此时测试仪将自动记录当前传感器的P测试点N值;
步骤三,根据测试仪传感器的线性关系,自动对所测试的P测试点N值进行修正,并对该测试结果进行存储。
2.根据权利要求1所述的自动测试线性指针式仪表并记录处理的方法,其特征在于,对P测试点N值进行修正的方法是:事先输入校验点值P校验N,根据该校验点值P校验N,其修正计算式为:
P实际测试点N值=P校验N-(P实际测试点N值-P校验N)=2P校验N-P实际测试点N值。
3.根据权利要求1所述的自动测试线性指针式仪表并记录处理的方法,其特征在于,对P测试点N值进行修正的方法是:根据四舍五入之方法,把测试值P测试点N进行四舍五入得到该测试品的校验点值P校验N;然后测试仪再自动对所测试的P测试点N进行修正,其修正计算式为:P实际测试点N值=P校验N-(P实际测试点N值-P校验N)=2P校验N-P实际测试点N值。
4.根据权利要求1所述的自动测试线性指针式仪表并记录处理的方法,其特征在于,测试仪自动计算出误差,其误差ΔP实际测试N=P实际测试点N值-P校验N;并对该计算结果进行存储。
5.根据权利要求1、2或3所述的任一自动测试线性指针式仪表并记录处理的方法,其特征在于,测试仪根据其精度ΔP要求,对所测试的各P实际测试点N值进行判断,如果|ΔP实际测试N|≤|精度ΔP|,测试仪就可以判断其P实际测试点N值精度符合要求;如果|ΔP实际测试N|>|精度ΔP|,测试仪就可以判断其P实际测试点N值精度不符合要求,并可对该判断结果进行存储。
6.根据权利要求1、2或3所述的自动测试线性指针式仪表并记录处理的方法,其特征在于,所述存储器储存的数据通过数据输出接口输出到其它外部设备或者用打印机直接打印,且该测试数据和结果具有掉电记忆功能。
7.根据权利要求1、2或3所述的自动测试线性指针式仪表并记录处理的方法,其特征在于,所述对P测试点N进行修正、误差计算、对所测试的各P实际测试点N值进行判断中的任意一项、或部分、或全部结合测试仪的后台软件或人工进行处理;即在测试仪之外的其它处理装置进行修正。
8.根据权利要求1或6所述的自动测试线性指针式仪表并记录处理的方法,其特征在于,利用输出接口和计算机连接,把测试数据输入到计算机中,由计算机再作进一步的处理。
9.根据权利要求1所述的自动测试线性指针式仪表并记录处理的方法,其特征在于,人工输入装置和显示装置联成一体。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏丽芳,未经苏丽芳许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710036256.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。