[发明专利]测试装置以及测试电路卡无效
| 申请号： | 200680046796.8 | 申请日： | 2006-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN101331404A | 公开（公告）日： | 2008-12-24 |
| 发明（设计）人： | 松本直木;关野隆 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 | 代理人： | 齐永红 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种测试装置，其配置有：激励器，其向被测试器件输出测试信号；第一FET开关，其切换激励器和被测试器件是否连接；比较器，其经第一FET开关接收被测试器件的输出信号，比较输出信号的电压和预先规定的参照电压；参照电压输入部，其把参照电压输入比较器；第二FET开关，其设置在参照电压输入部和比较器之间；虚拟电阻，其一端与比较器及第二FET开关的接点连接，另一端与规定的电压连接；激励器的输出电阻及第一FET开关的接通电阻的电阻比与虚拟电阻及第二FET开关的接通电阻的电阻比大致相等。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 以及 路卡 | ||
【主权项】：
1、一种测试被测试器件的测试装置，其特征在于，配置有：激励器，其向前述被测试器件输出测试信号；第一FET开关，其切换前述激励器和前述被测试器件是否连接；比较器，其经前述第一FET开关接收前述被测试器件的输出信号，比较前述输出信号的电压和预先规定的参照电压；参照电压输入部，其把前述参照电压输入前述比较器；第二FET开关，其设置在前述参照电压输入部和前述比较器之间；虚拟电阻，其一端与前述比较器及前述第二FET开关的接点连接，另一端与规定的电压连接；前述激励器的输出电阻及前述第一FET开关的接通电阻的电阻比与前述虚拟电阻及前述第二FET开关的接通电阻的电阻比大致相等。
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