[发明专利]测试装置以及测试电路卡

权利要求书

1.一种测试被测试器件的测试装置，其特征在于，配置有：

激励器，其向前述被测试器件输出测试信号；

第一FET开关，其切换前述激励器和前述被测试器件是否连接；

比较器，其经前述第一FET开关接收前述被测试器件的输出信号，比较前述输出信号的电压和预先确定的参照电压；

参照电压输入部，其把前述参照电压输入前述比较器；

第二FET开关，其设置在前述参照电压输入部和前述比较器之间；

虚拟电阻，其一端与前述比较器及前述第二FET开关的接点连接，另一端与规定的终端电压连接；

前述激励器的输出电阻及前述第一FET开关的接通电阻的电阻比与前述虚拟电阻及前述第二FET开关的接通电阻的电阻比大致相等。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：

前述激励器、前述第一FET开关、前述比较器、前述第二FET开关以及前述虚拟电阻设置在同一基板上。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于：

前述第二FET开关的接通电阻大于前述第一FET开关的接通电阻，前述虚拟电阻大于前述激励器的输出电阻。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于：

前述激励器具有第一启用开关，其切换把前述激励器的输出端与预先规定的终端电压连接，还是以高阻抗端接；

前述测试装置还配置有第二启用开关，其切换把前述虚拟电阻与前述终端电压连接，还是以高阻抗端接。

5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于：

前述第二启用开关，在前述第一启用开关把前述激励器的输出端与前述终端电压连接的情况下，把前述虚拟电阻与前述终端电压连接，在第一启用开关把前述激励器输出端以高阻抗端接的情况下，把前述虚拟电阻以高阻抗端接。

6.一种测试电路卡，其在测试被测试器件的测试装置中与前述被测试器件进行信号收发，其特征在于配置有：

激励器，其向前述被测试器件输出测试信号；

第一FET开关，其切换是否把前述激励器和前述被测试器件连接；

比较器，其经前述第一FET开关接收前述被测试器件的输出信号，比较前述输出信号的电压和预先规定的参照电压；

参照电压输入部，其把前述参照电压输入前述比较器中；

第二FET开关，其设置在前述参照电压输入部和前述比较器之间；

虚拟电阻，其连接于前述第二FET开关与前述比较器的连接点；

前述激励器的输出电阻以及前述第一FET开关的接通电阻的电阻比与前述虚拟电阻及前述第二FET开关的接通电阻的电阻比大致相等。