[发明专利]发光体的亮度测量方法及其装置无效
| 申请号： | 200680018155.1 | 申请日： | 2006-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN101180522A | 公开（公告）日： | 2008-05-14 |
| 发明（设计）人： | 斋藤研一郎;酒井三枝子 | 申请（专利权）人： | 亚米良寿公司 |
| 主分类号： | G01J1/02 | 分类号： | G01J1/02;G01M11/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王永刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种发光体的亮度测量方法，测量具有一定面积的表面、发出微少光量的发光体的亮度，使光传感器的受光面直接与上述发光体表面接触，进行测量。作为光传感器，最好使用半导体传感器板或太阳能电池板。由此，即使是微弱的发光，不采用像以往那样暗室和透镜聚光系统这样复杂、麻烦的方法，也能够简便、容易且适当地测量亮度。 | ||
| 搜索关键词： | 发光体 亮度 测量方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
1.一种发光体的亮度测量方法，测量具有一定面积的表面、发出微少光量的发光体的亮度，其特征在于，使光传感器的受光面直接与上述发光体表面接触，来进行测量。
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