[发明专利]发光体的亮度测量方法及其装置

权利要求书

1.一种发光体的亮度测量方法，测量具有一定面积的表面、发出微少光量的发光体的亮度，其特征在于，使光传感器的受光面直接与上述发光体表面接触，来进行测量。

2.根据权利要求1所述的发光体的亮度测量方法，其特征在于，作为光传感器，使用半导体传感器板。

3.根据权利要求1所述的发光体的亮度测量方法，其特征在于，作为光传感器，使用太阳能电池板。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的发光体的亮度测量方法，其特征在于，将发光体表面的面积与光传感器受光面的面积设定为相同或大致相同，来进行测量。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的发光体的亮度测量方法，其特征在于，设置遮光部件来进行测量，该遮光部件在上述光传感器受光面与上述发光体表面接触的状态下，防止外部光进入上述光传感器的受光面。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的发光体的亮度测量方法，其特征在于，从以下模式中选择任意一种模式进行测量：

以预先确定而得到的取样时间测量亮度并显示其测量值的标准测量模式；

任意选择取样时间、自动且连续地进行测量并保持其测量数据的自动测量记录模式；

预先测量并存储多个基准物的亮度数据、对测量对象的亮度测量一定时间、并根据与上述存储的测量对象相同或类似的基准物的亮度数据求出预测值的预测测量模式。

7.一种发光体的亮度测量装置，测量具有一定面积的表面、发出微少光量的发光体的亮度，其特征在于，具有光传感器，使上述光传感器的受光面直接与上述发光体表面接触，来进行测量。

8.根据权利要求7所述的发光体的亮度测量装置，其特征在于，上述光传感器为半导体传感器板。

9.根据权利要求7所述的发光体的亮度测量装置，其特征在于，上述光传感器为太阳能电池板。

10.根据权利要求7至9中任一项所述的发光体的亮度测量装置，其特征在于，上述发光体表面的面积与上述光传感器受光面的面积相同或大致相同。

11.根据权利要求7至10中任一项所述的发光体的亮度测量装置，其特征在于，具有遮光部件，该遮光部件在上述光传感器受光面与上述发光体表面接触的状态下，防止外部光进入上述光传感器的受光面。

12.根据权利要求7至11中任一项所述的发光体的亮度测量装置，其特征在于，具有：对上述光传感器检测出的亮度进行信号处理的处理部，存储由上述处理部处理后的测量数据的存储部，和显示测量出的亮度值的显示部。

13.根据权利要求12所述的发光体的亮度测量装置，其特征在于，上述处理部从以下模式中选择任意一种模式进行测量：

以预定的取样时间测量亮度并在上述显示部中显示其测量值的标准测量模式；

任意选择取样时间、自动且连续地进行测量并在上述存储部中保持其测量数据的自动测量记录模式；

预先测量多个基准物的亮度数据并存储在上述存储部中、对测量对象的亮度测量一定时间、根据与上述存储部所存储的测量对象相同或类似的基准物亮度数据求出预测值的预测测量模式。