[发明专利]发光体的亮度测量方法及其装置

说明书

技术领域

本发明是关于发光体的亮度测量方法及其装置。

背景技术

以往，作为测量亮度的方法，是使发光体的发光面所发出的光从屏蔽板等的孔中通过，利用透镜等聚焦，利用亮度计的受光面来测量亮度。

但是，上述以往的亮度测量方法及其装置有以下问题。

1.从发光体发出的光例如为1～几坎德拉、很弱的情况下，难以测量，所以要进行测量的话，就要在很暗的房间中由透镜聚光，进行测量。因此，给测量增加了很大的负担。

2.通常使用发光体与受光体间隔一定距离的方法。这是由于需要由透镜来聚光，所以在发光体与受光体之间设置透镜。发光体的光越弱，就越需要利用透镜聚光。但是，这样由透镜进行的聚光系统中，光学系统很复杂，操作也很麻烦。

发明内容

因此，本发明是为了解决以上问题而发明的，提供一种技术方法，即使是微弱的发光，不采用像以往那样暗室和透镜聚光系统这样复杂、麻烦的方法，也能够简便、容易且适当地测量亮度。

为了解决上述课题，根据本发明，第1，提供一种发光体的亮度测量方法，测量具有一定面积的表面、发出微少光量的发光体的亮度，其特征在于，使光传感器的受光面直接与上述发光体表面接触，进行测量。

第2，提供一种发光体的亮度测量方法，其特征在于，上述第1发明中，作为光传感器，使用半导体传感器板。

第3，提供一种发光体的亮度测量方法，其特征在于，上述第1发明中，作为光传感器，使用太阳能电池板。

第4，提供一种发光体的亮度测量方法，其特征在于，上述第1至第3发明的任一项中，将发光体表面的面积与光传感器受光面的面积设定为相同或大致相同后进行测量。

第5，提供一种发光体的亮度测量方法，其特征在于，上述第1至第4发明的任一项中，设置遮光部件后进行测量，该遮光部件在上述光传感器受光面与上述发光体表面接触的状态下，防止外部光进入上述光传感器的受光面。

第6，提供一种发光体的亮度测量方法，其特征在于，上述第1至第5发明的任一项中，从以下模式中选择任意一种模式进行测量：

以预先确定而得到的取样时间测量亮度并显示其测量值的标准测量模式；任意选择取样时间、自动且连续地进行测量并保持其测量数据的自动测量记录模式；预先测量并存储多个基准物的亮度数据、对测量对象的亮度测量一定时间、并根据与上述存储的测量对象相同或类似的基准物的亮度数据求出预测值的预测测量模式。

第7，提供一种发光体的亮度测量装置，测量具有一定面积的表面、发出微少光量的发光体的亮度，其特征在于，具有光传感器，使上述光传感器的受光面直接与上述发光体表面接触，进行测量。

第8，提供一种发光体的亮度测量装置，其特征在于，上述第7发明中，上述光传感器为半导体传感器板。

第9，提供一种发光体的亮度测量装置，其特征在于，上述第7发明中，上述光传感器为太阳能电池板。

第10，提供一种发光体的亮度测量装置，其特征在于，上述第7至第9发明的任一项中，上述发光体表面的面积与上述光传感器受光面的面积相同或大致相同。

第11，提供一种发光体的亮度测量装置，其特征在于，上述第7至第10发明的任一项中，具有遮光部件，该遮光部件在上述光传感器受光面与上述发光体表面接触的状态下，防止外部光进入上述光传感器的受光面。

第12，提供一种发光体的亮度测量装置，其特征在于，上述第7至第11发明的任一项中，具有：将上述光传感器检测出的亮度进行信号处理的处理部，存储由上述处理部处理后的测量数据的存储部，以及显示测量出的亮度值的显示部。

第13，提供一种发光体的亮度测量装置，其特征在于，上述第12发明中，上述处理部从以下模式中选择任意一种模式进行测量：

以预定的取样时间测量亮度并在上述显示部中显示其测量值的标准测量模式；任意选择取样时间、自动且连续地进行测量并在上述存储部中保持其测量数据的自动测量记录模式；预先测量多个基准物的亮度数据并存储在上述存储部中、对测量对象的亮度测量一定时间、根据与上述存储部所存储的测量对象相同或类似的基准物亮度数据求出预测值的预测测量模式。

附图说明

[图1]图1是表示本发明亮度测量的基本结构的概要图。

[图2]图2(a)、(b)分别模式地表示本发明的亮度测量中、发光体使用蓄光板的例子的结构的侧面剖面图、后视图。

[图3]图3(a)、(b)、(c)、(d)分别表示本发明一构成例的亮度测量装置的主视图、侧视图、后视图、仰视图。