[发明专利]静电击穿保护电路及半导体集成电路设备有效

专利信息
申请号: 200680015675.7 申请日: 2006-12-05
公开(公告)号: CN101171680A 公开(公告)日: 2008-04-30
发明(设计)人: 土桥正典 申请(专利权)人: 罗姆股份有限公司
主分类号: H01L21/822 分类号: H01L21/822;H01L27/088;H01L21/8234;H03K19/003;H01L27/04
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 朱进桂
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 根据本发明的保护电路包括:二极管(D1),其阳极与栅极信号输入端子连接,其阴极与输出晶体管(N1)的栅极连接;电阻器(R1),其一端与所述栅极信号输入端子连接,其另一端接地;PNP双极型晶体管(Qp1),其发射极、基极、集电极分别与所述输出晶体管(N1)的栅极、电阻器(R1)的所述一端和地连接。采用这种配置,可以在不需要电能的情况下,防止开漏输出晶体管由于施加其上的静电脉冲等而错误地导通,从而保护开漏输出晶体管免受静电击穿。
搜索关键词: 静电 击穿 保护 电路 半导体 集成电路 设备
【主权项】:
1.一种用于保护开漏输出晶体管免受静电击穿的静电击穿保护电路,包括:二极管,其阳极与所述输出晶体管的信号输入端子连接,其阴极与所述输出晶体管的栅极连接;第一电阻器,其一端与所述信号输入端子连接,其另一端接地;以及PNP双极型晶体管或P沟道场效应晶体管,其发射极或源极与所述输出晶体管的栅极连接,其基极或栅极与第一电阻器的所述一端连接,以及其集电极或漏极接地。
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