[发明专利]静电击穿保护电路及半导体集成电路设备有效

专利信息
申请号: 200680015675.7 申请日: 2006-12-05
公开(公告)号: CN101171680A 公开(公告)日: 2008-04-30
发明(设计)人: 土桥正典 申请(专利权)人: 罗姆股份有限公司
主分类号: H01L21/822 分类号: H01L21/822;H01L27/088;H01L21/8234;H03K19/003;H01L27/04
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 朱进桂
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 静电 击穿 保护 电路 半导体 集成电路 设备
【权利要求书】:

1.一种用于保护开漏输出晶体管免受静电击穿的静电击穿保护电路,包括:

二极管,其阳极与所述输出晶体管的信号输入端子连接,其阴极与所述输出晶体管的栅极连接;

第一电阻器,其一端与所述信号输入端子连接,其另一端接地;以及

PNP双极型晶体管或P沟道场效应晶体管,

其发射极或源极与所述输出晶体管的栅极连接,

其基极或栅极与第一电阻器的所述一端连接,以及

其集电极或漏极接地。

2.根据权利要求1所述的静电击穿保护电路,还包括:

箝位元件,与所述输出晶体管并联连接,所述箝位元件的触发电压设为低于所述输出晶体管的设计耐压。

3.根据权利要求1所述的静电击穿保护电路,还包括:

第二电阻器,连接在所述PNP双极型晶体管的集电极或所述P沟道场效应晶体管的漏极与地之间;以及

多级NPN双极型晶体管,以达林顿组态连接在所述输出晶体管的栅极与地之间,所述NPN双极型晶体管的第一级晶体管的基极与第二电阻器的一端连接。

4.一种半导体集成电路设备,包括:

开漏输出晶体管;反相器,用于向所述输出晶体管的栅极输入信号;以及静电击穿保护电路,用于保护所述输出晶体管免受静电击穿,

其中所述半导体集成电路设备包括根据权利要求1所述的静电击穿保护电路,作为所述静电击穿保护电路。

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