[发明专利]光检测单元、光检测装置以及X射线断层摄像装置有效
| 申请号： | 200680013217.X | 申请日： | 2006-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN101163450A | 公开（公告）日： | 2008-04-16 |
| 发明（设计）人： | 琴冈义久 | 申请（专利权）人： | 浜松光子学株式会社 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;G01J1/02;H01L27/14;H01L31/02;G01T1/20 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人： | 龙淳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种安装作业性良好的光检测单元。在光检测单元(1)中，在由陶瓷的烧结体形成的支撑基板(20)的背面上，固定有2个安装用结构体(30)。在光检测单元(1)的制造工序中，各安装用结构体(30)在烧结生片的层叠体形成陶瓷的烧结体之后，接合在支撑基板(20)的背面上。由此，能够将安装用结构体(30)精度良好地配置在支撑基板(20)的背面上，提高光检测单元(1)的安装作业性。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 单元 装置 以及 射线 断层 摄像 | ||
【主权项】：
1.一种光检测单元，其特征在于，包括：半导体基板，形成有由多个光电二极管排列而成的光电二极管阵列；支撑基板，由陶瓷的烧结体形成，在表面上配置有所述半导体基板；安装用结构体，被固定在所述支撑基板的背面上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浜松光子学株式会社，未经浜松光子学株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200680013217.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：LED组件、以及制造该LED组件的方法
- 下一篇：蒲公英绿茶的生产方法
