[发明专利]光检测单元、光检测装置以及X射线断层摄像装置

权利要求书

1.一种光检测单元，其特征在于，包括：

半导体基板，形成有由多个光电二极管排列而成的光电二极管阵列；

支撑基板，由陶瓷的烧结体形成，在表面上配置有所述半导体基板；

安装用结构体，被固定在所述支撑基板的背面上。

2.根据权利要求1所述的光检测单元，其特征在于：

在所述支撑基板的背面上至少固定2个所述安装用结构体。

3.根据权利要求1所述的光检测单元，其特征在于：

所述安装用结构体形成为与螺栓螺合。

4.根据权利要求1所述的光检测单元，其特征在于：

所述安装用结构体形成为，被螺栓贯通，并在该贯通部位与所述螺栓螺合。

5.根据权利要求1所述的光检测单元，其特征在于：

所述安装用结构体形成为与螺帽螺合。

6.根据权利要求1所述的光检测单元，其特征在于：

所述安装用结构体形成为，使嵌合部件嵌合。

7.根据权利要求1所述的光检测单元，其特征在于：

所述安装用结构体由铁镍钴合金形成，并通过银钎焊与在所述支撑基板的背面上形成的钨区域相接合。

8.一种光检测装置，其特征在于，包括：

光检测单元，其包括：半导体基板，形成有由多个光电二极管排列而成的光电二极管阵列；支撑基板，由陶瓷的烧结体形成，在表面上配置有所述半导体基板；安装用结构体，被固定在所述支撑基板的背面上，

安装基座，经由所述安装用结构体安装了所述光检测单元。

9.根据权利要求8所述的光检测单元，其特征在于：

在所述安装基座上安装了多个所述光检测单元。

10.一种X射线断层摄像装置，生成被检测体的断层像，其特征在于，包括：

X射线发生装置，向所述被检测体发生X射线；

光检测装置，检测由透过所述被检测体的X射线入射到闪烁器而产生的光，其中，

所述光检测装置，包括：

光检测单元，其包括：半导体基板，形成有由多个光电二极管排列而成的光电二极管阵列；支撑基板，由陶瓷的烧结体形成，在表面上配置有所述半导体基板；安装用结构体，被固定在所述支撑基板的背面上，

安装基座，经由所述安装用结构体安装了所述光检测单元。

11.根据权利要求10所述的X射线断层摄像装置，其特征在于：

多个所述光检测单元被2维排列在通道方向以及分层方向上，

在所述每一个光检测单元中，所述半导体基板被配置在所述支撑基板的整个表面上。