[发明专利]多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法无效
| 申请号： | 200610170289.7 | 申请日： | 2006-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN101210952A | 公开（公告）日： | 2008-07-02 |
| 发明（设计）人： | 龚汉忠;赖佳宏 | 申请（专利权）人： | 中茂电子（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/303;G01R31/317;G01R31/3185;G01R31/00;G06F11/00;G06F17/00;G05B19/04;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京明和龙知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郁玉成 |
| 地址： | 518054广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法，该方法是分别针对不同的测试产品，将其测试程序、测试产品信息及设备参数设定等繁琐步骤，制成各自对应该测试产品的映像文件，以便由测试机台管理所述映像档；产品测试前只需将各待测试机板上的识别码输入测试机台，即可开始一连串的自动测试程序；根据该方法将可大大减少产品测试前所需的繁琐设定，从而更进一步确保测试的正确性与完整性，大幅度提高管理的效能与产品测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 半导体 机台 自动化 设定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法，其可供对应多个测试电路板，所述多个测试电路板为分别对应数量少于测试电路板数量的多个测试流程，且该测试机台具有多个测试基座及一控制装置，各所述测试基座分别供置放一所述测试电路板，各所述测试电路板分别具有一识别码；该方法包括下列步骤：在所述控制装置中建立各所述测试电路板与所述测试流程的对应关系数据库及对应各所述测试流程的映像文件；输入各所述测试基座上测试电路板识别码至所述控制装置；由所述控制装置根据各所述测试基座中的测试电路板对应的所述测试流程，提供对应所述测试流程的映像文件供各对应的所述测试基座执行。
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