[发明专利]多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法无效
| 申请号： | 200610170289.7 | 申请日： | 2006-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN101210952A | 公开（公告）日： | 2008-07-02 |
| 发明（设计）人： | 龚汉忠;赖佳宏 | 申请（专利权）人： | 中茂电子（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/303;G01R31/317;G01R31/3185;G01R31/00;G06F11/00;G06F17/00;G05B19/04;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京明和龙知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郁玉成 |
| 地址： | 518054广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试 半导体 机台 自动化 设定 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法，其可供对应多个测试电路板，所述多个测试电路板为分别对应数量少于测试电路板数量的多个测试流程，且该测试机台具有多个测试基座及一控制装置，各所述测试基座分别供置放一所述测试电路板，各所述测试电路板分别具有一识别码；该方法包括下列步骤：
在所述控制装置中建立各所述测试电路板与所述测试流程的对应关系数据库及对应各所述测试流程的映像文件；
输入各所述测试基座上测试电路板识别码至所述控制装置；
由所述控制装置根据各所述测试基座中的测试电路板对应的所述测试流程，提供对应所述测试流程的映像文件供各对应的所述测试基座执行。
2.根据权利要求1所述的多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法，其特征在于：所述识别码为一条形码。
3.根据权利要求1或2所述的多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法，其特征在于：输入各所述测试基座上测试电路板识别码至所述控制装置的输入方式是由扫瞄器读取条形码。
4.根据权利要求1所述的多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法，其特征在于：所述识别码为网卡的内码。
5.根据权利要求1或4所述多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法，其特征在于：输入各所述测试基座上测试电路板识别码至所述控制装置的输入方式是在开机时自动读取。
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