[发明专利]一种砷化镓PIN二极管及其制作方法有效

专利信息
申请号: 200610112885.X 申请日: 2006-09-06
公开(公告)号: CN101140955A 公开(公告)日: 2008-03-12
发明(设计)人: 杨浩;张海英;吴茹菲 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L29/868 分类号: H01L29/868;H01L21/329
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周国城
地址: 100029*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种GaAs PIN二极管,该GaAs PIN二极管包括:用于支撑整个GaAs PIN二极管的半绝缘GaAs衬底;在半绝缘GaAs衬底上外延生长的高掺杂N+层,在高掺杂N+层上依次外延生长的接近本征的高阻I层和P+层;通过采用湿法刻蚀,所述高掺杂N+层、高阻I层和P+层的面积依次减小形成台面结构;在P+层上蒸发金属形成的圆形结构上电极;在N+层上蒸发金属形成的半环形结构下电极。本发明同时公开了一种GaAsPIN二极管的制作方法。利用本发明,不增加工艺难度的前提下有效降低了PIN二极管的寄生电容,同时,连接上电极的微带线大大缩短,由其引入的寄生电感可以大幅减小,甚至可以忽略,无需使用空气桥工艺,制作简便,能够获得更好的高频特性,且易于实现单片集成。
搜索关键词: 一种 砷化镓 pin 二极管 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种砷化镓GaAs PIN二极管,其特征在于,该GaAs PIN二极管包括:用于支撑整个GaAs PIN二极管的半绝缘GaAs衬底;在半绝缘GaAs衬底上外延生长的高掺杂N+层,在高掺杂N+层上依次外延生长的接近本征的高阻I层和P+层;通过采用湿法刻蚀,所述高掺杂P+层、高阻I层和N+层的高度依次降低形成台面结构;在P+层上蒸发金属形成的圆形结构上电极;在N+层上蒸发金属形成的半环形结构下电极。
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