[发明专利]一种砷化镓PIN二极管及其制作方法有效
| 申请号: | 200610112885.X | 申请日: | 2006-09-06 |
| 公开(公告)号: | CN101140955A | 公开(公告)日: | 2008-03-12 |
| 发明(设计)人: | 杨浩;张海英;吴茹菲 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号: | H01L29/868 | 分类号: | H01L29/868;H01L21/329 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 周国城 |
| 地址: | 100029*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 砷化镓 pin 二极管 及其 制作方法 | ||
技术领域
本发明涉及微电子器件中二极管技术领域,尤其涉及一种砷化镓(GaAs)PIN二极管及其制作方法。
背景技术
PIN二极管是微波控制电路中应用最普遍的一种器件,其特点是可控功率大、插入损耗小以及可以得到近似短路和开路的良好特性,可应用于开关电路、限幅器、移相器、衰减器和调制器等控制电路中。
相对于传统的Si PIN二极管,GaAs PIN二极管的高频特性更为优越,是微波系统中不可或缺的重要器件,因此,研制性能优良的GaAs PIN二极管具有重要意义。
如图1所示,图1为目前常见的台面结构PIN二极管俯视图。其中,上电极3、下电极4分别由P+层和N+层欧姆接触金属构成。这种结构上电极为圆形,下电极为圆环形,电流分布均匀,可避免局部区域电荷积聚,有利于提高器件的功率容量和击穿电压。
但是,当这种结构应用到单片电路中时,二极管上下电极需要通过微带线2与电路其他部分连接,连接上电极的微带线将跨越下电极表面,出现图1所示的重叠区域1,引入寄生电容。
较大的寄生电容将使二极管反偏状态时对高频信号的隔离度降低,严重影响二极管开路特性。为减小寄生电容,常用的解决办法是在阴影部分采用空气桥结构(参照非专利文献1、2)。采用空气桥结构后,布线金属与下电极金属间距将加大,而且,桥面下为空气,相对介电常数为1,由此可知,采用空气桥结构后,寄生电容值将减小至原来的几十分之一。
非专利文献1,Takasu H.Estimation of equivalent circuit parameters fora millimetre-wave GaAs PIN diode switch[C].Circuits,Devices and Systems,IEE Proceedings.Volume:150,Issue:2,April 2003:92-94。
非专利文献2,Jar-Lon Lee,Zych D.,Reese E.;Drury D.M.Monolithic2-18 GHz low loss,on-chip biased PIN diode switches[C].Microwave Theoryand Techniques,IEEE Transactions on,Volume:43,Issue:2,Feb.1995:250-256。
但是,空气桥结构将增加工艺难度,桥面容易出现塌陷或断裂现象,降低成品率,桥面金属将引入一定的寄生电感。
发明内容
(一)要解决的技术问题
有鉴于此,本发明的一个目的在于提供一种GaAs PIN二极管,以在不增加工艺难度的前提下有效降低PIN二极管的寄生电容。
本发明的另一个目的在于提供一种GaAs PIN二极管的制作方法,以在不增加工艺难度的前提下有效降低PIN二极管的寄生电容。
(二)技术方案
为达到上述一个目的,本发明提供了一种砷化镓GaAs PIN二极管,该GaAs PIN二极管包括:
用于支撑整个GaAs PIN二极管的半绝缘GaAs衬底;
在半绝缘GaAs衬底上外延生长的高掺杂N+层,在高掺杂N+层上依次外延生长的接近本征的高阻I层和P+层;通过采用湿法刻蚀,所述高掺杂N+层、高阻I层和P+层的面积依次减小形成台面结构;
在P+层上蒸发金属形成的圆形结构上电极;
在N+层上蒸发金属形成的半环形结构下电极。
所述在P+层上形成圆形结构上电极和在N+层上形成半环形结构下电极的金属为Pt/Ti/Au或Ni/Ge/Au/Ge/Ni/Au。
为达到上述另一个目的,本发明提供了一种GaAs PIN二极管的制作方法,该方法包括:
A、在半绝缘GaAs衬底上外延生长高掺杂的N+层;
B、在N+层上依次外延生长接近本征的高阻层I和P+层;
C、采用湿法刻蚀依次刻蚀减小所述高掺杂N+层、高阻I层和P+层的面积,形成台面结构;
D、在P+层和N+层上分别蒸发金属形成圆形结构上电极和半环形结构下电极。
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