[发明专利]一种砷化镓PIN二极管及其制作方法有效

专利信息
申请号: 200610112885.X 申请日: 2006-09-06
公开(公告)号: CN101140955A 公开(公告)日: 2008-03-12
发明(设计)人: 杨浩;张海英;吴茹菲 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L29/868 分类号: H01L29/868;H01L21/329
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周国城
地址: 100029*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 砷化镓 pin 二极管 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种砷化镓GaAs PIN二极管,其特征在于,该GaAs PIN二极管包括:

用于支撑整个GaAs PIN二极管的半绝缘GaAs衬底;

在半绝缘GaAs衬底上外延生长的高掺杂N+层,在高掺杂N+层上依次外延生长的接近本征的高阻I层和P+层;通过采用湿法刻蚀,所述高掺杂P+层、高阻I层和N+层的高度依次降低形成台面结构;

在P+层上蒸发金属形成的圆形结构上电极;

在N+层上蒸发金属形成的半环形结构下电极。

2.根据权利要求1所述的GaAs PIN二极管,其特征在于,所述在P+层上形成圆形结构上电极和在N+层上形成半环形结构下电极的金属为Pt/Ti/Au或Ni/Ge/Au/Ge/Ni/Au。

3.一种GaAs PIN二极管的制作方法,其特征在于,该方法包括:

A、在半绝缘GaAs衬底上外延生长高掺杂的N+层;

B、在N+层上依次外延生长接近本征的高阻层I和P+层;

C、采用湿法刻蚀依次刻蚀减小所述高掺杂N+层、高阻I层和P+层的面积,形成台面结构;

D、在P+层和N+层上分别蒸发金属形成圆形结构上电极和半环形结构下电极。

4.根据权利要求3所述的GaAs PIN二极管的制作方法,其特征在于,所述步骤D包括:

在P+层和N+层上分别蒸发金属Pt/Ti/Au或Ni/Ge/Au/Ge/Ni/Au,形成圆形结构上电极和半环形结构下电极。

5.根据权利要求3所述的GaAs PIN二极管的制作方法,其特征在于,该方法进一步包括:

E、采用RTP法完成P+层和N+层欧姆接触;

F、在整个二极管器件表面淀积氮化硅,并采用干法刻蚀淀积的氮化硅打开电极引线窗口。

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