[发明专利]半导体封装件及其制法无效
申请号: | 200610101590.2 | 申请日: | 2006-07-20 |
公开(公告)号: | CN101110369A | 公开(公告)日: | 2008-01-23 |
发明(设计)人: | 普翰屏;萧承旭 | 申请(专利权)人: | 矽品精密工业股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/60;H01L21/56;H01L23/488;H01L23/31 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种半导体封装件及其制法,是提供一具多个芯片承载件的芯片承载件模块片,且于该芯片承载件上设有多个电性连接点,并于该芯片承载件模块片上进行接置芯片及封装模压作业,藉以形成用以包覆半导体芯片的封装胶体,并使该电性连接点外露出该封装胶体,接着于该封装胶体上形成图案化线路层,且使该线路层电性耦合至该电性连接点,之后沿各该芯片承载件间进行切割,藉以形成多个半导体封装件,其中各该半导体封装件的封装胶体上即形成有线路层,以供该半导体封装件利用形成于该封装胶体上的线路层提供额外的电性接点,从而提升电子产品电性功能,同时于封装件堆叠时,可使上层堆叠封装件毋须受限于下层堆叠封装件的设计。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 及其 制法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体封装件的制法,包括:提供一具多个芯片承载件的芯片承载件模块片,且于该芯片承载件上设有多个电性连接点;于各该芯片承载件上接置并电性连接半导体芯片;于该芯片承载件模块片上形成一用以包覆该半导体芯片的封装胶体;将该电性连接点外露出该封装胶体;于该封装胶体上形成线路层,且该线路层电性耦合至外露出该封装胶体的电性连接点;以及沿各该芯片承载件边缘进行切割,以形成多个半导体封装件。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造