[发明专利]测试装置以及电源电路无效
| 申请号： | 200580038529.1 | 申请日： | 2005-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN101057198A | 公开（公告）日： | 2007-10-17 |
| 发明（设计）人： | 小寺悟司 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G05F1/618 | 分类号： | G05F1/618;H02M3/155;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 寿宁 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种测试装置，为一种测试电子元件的测试装置。该测试装置包括：图案生成部，生成用于供给到电子元件的测试图案；电源电路，用于对电子元件供给电源电力；判定部，根据电子元件输出的输出信号而判定电子元件的好坏；其中，电源电路包括：电压源，用于生成应施加在电子元件上的设定的输入电压；功率元件，根据电压源所生成的输入电压，向电子元件供给电源电力；电源，用于供给功率元件的驱动电力，以及电压控制部，根据功率元件所输出的电源电力而控制电源在功率元件上所施加的驱动电压。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 以及 电源 电路 | ||
【主权项】：
1.一种测试装置，为一种测试电子元件的测试装置，其特征在于该测试装置包括：一图案生成部，生成用于供给到前述电子元件的测试图案；一电源电路，用于对前述电子元件供给电源电力；一判定部，根据前述电子元件输出的输出信号而判定前述电子元件的好坏；其中，前述电源电路包括：一电压源，用于生成应施加在前述电子元件上的设定的输入电压；一功率元件，根据前述电压源所生成的前述输入电压，向前述电子元件供给前述电源电力；一电源，用于供给前述功率元件的驱动电力；以及一电压控制部，根据前述功率元件所输出的前述电源电力，控制前述电源在前述功率元件上所施加的驱动电压。
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