[发明专利]场分布测量方法及装置无效
| 申请号： | 01801136.5 | 申请日： | 2001-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN1372644A | 公开（公告）日： | 2002-10-02 |
| 发明（设计）人： | 北吉均 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01R33/10 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 杜日新 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在通过使探头连续进行扫描的同时在多数取样点上进行测量,测量电场或磁场的空间分布的场分布测量方法中,根据探头位置和测量定时之间的偏差所产生的寄生频谱,计算出取样的偏差量,并考虑该偏差量,测量电场或磁场的分布。这样可以适当除去由探头移动位置和测量定时之间偏差所产生的测量噪声。 | ||
| 搜索关键词： | 分布 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种场分布测量方法，通过使探头连续进行扫描的同时，在多数取样点上进行测量，测量电场或磁场的空间分布，其特征在于：根据由上述探头的位置和测量定时之间的偏差所产生的寄生频谱，计算出取样点的偏差量，并考虑上述偏差量，测量电场或磁场的分布。
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