[发明专利]场分布测量方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及使探头扫描，测量电场及磁场分布的界分布测量方法及装置，特别是关于可除去因探头移动位置与测量定时间偏差而产生的测量噪声的场分布测量方法及装置。

背景技术

在小型天线方向性评价装置及电波监视可视化装置中，需要测量电场及磁场的二维分布。在现有的这些装置中，采用了通过使探头二维扫描，测量电场及磁场二维分布的场分布测量方法。

对于现有的场分布测量方法及装置，参照图6进行说明。

在划定测量电场及磁场范围的场分布测量面100上，设置有为检测电场及磁场的探头102。探头102连接在探头扫描控制部104上，在场分布测量面100内可以在x轴方向及y轴方向进行扫描。在探头102上连接测量部106，根据从探头102输出的信号测量电场及磁场。探头扫描控制部104产生对应于探头102位置的测量触发信号，并输入到测量部106中。通过测量部106所测量的电场及磁场数据F，可以与从探头扫描控制部104所传送来的位置信息一起记录在缓冲存储器108中。在缓冲存储器108上连接有运算·显示部110，对缓冲存储器108中所存储的测量数据在二维平面上展开显示。

在图6中所示的场分布测量装置中，场分布的测量是在使探头102进行扫描的同时，在场分布测量面100上，按每个规定间隔测量电场及磁场，使测量的电场及磁场与探头102的位置信息一起进行处理。

探头102为了使其移动有效进行，使测量通过量最大，而在每个取样点(测量点)上不停顿，对场分布测量面上连续进行扫描。探头102例如如图6中所示，沿x轴正方向移动，接着沿y轴正方向移动规定值，接着沿x轴负方向移动，接着沿y轴正方向移动规定值，接着沿x轴正方向移动，接着通过反复进行这些一连串的动作，对场分布测量面上的大体全面进行扫描(以下将这样的扫描方法称为折线扫描)。

探头扫描控制部104在探头102对场分布测量面100上扫描的过程中，根据探头102的位置发出测量触发信号。例如如图7所示，沿x轴预先设定等间隔排列的多数x座标，每当探头102所处位置的x座标移动到这些设定点时就产生测量触发信号。该测量触发信号传送给测量部106。

在测量部106上，当接收到测量触发信号时，则判断为通过探头102所检测的信号是其取样点上的电场及磁场信息，根据该时刻从探头102的输出信号，进行电场及磁场的测量。

这样所测量的电场及磁场数据F，与从探头扫描控制部所输出的探头位置信息(座标(x、y))一起存储在缓冲存储器108中。

然后，通过运算·显示部110，使存储在缓冲存储器108中的数据F(x，y)在二维平面上展开，这样可以得到电场及磁场的二维分布。

但是，在从测量触发信号的检测到测量值输出之间存在延迟时间。因此，为了提高测量通过量而在每个取样点上不停顿，连续进行扫描的上述现有的场分布测量方法中，输出测量触发信号时的探头102的x座标，与实际测量时的探头102的x座标是不同的。

另外，如图7所示，当使探头102折线扫描时，y轴的第奇数列和y轴的第偶数列间的座标移动方向是相互相反的。即，探头在沿x轴正方向移动的y轴第奇数列上，取样点也在正方向的位置上移位(图中的0标记)。反之，探头在沿x轴负方向移动的y轴第偶数列上，取样点也在负方向的位置上移位(图中的x标记)。当设探头扫描速度为V[m/s]、延迟时间为td[sec]时，该取样点的不一致量对同一触发点来说，x轴位置移动2×V×td[m]。

从而，根据从探头扫描控制部104所输出的位置信息，使场分布在二维平面上展开，不能得到电场及磁场的正确二维像。

发明内容

本发明的目的在于提供一种场分布测量方法及装置，使探头连续扫描，测量电场及磁场的空间分布，可以除去由探头移动位置和测量定时之间偏差产生的测量噪声。

上述目的通过场分布测方法达到，该场分布测量方法在使探头连续扫描的同时通过在多数取样点上进行测量来测量电场或磁场的空间分布，其特征在于：根据由上述探头位置和测量定时之间的偏差所产生的寄生频谱，计算出取样点的偏差量，并考虑上述偏差量来测量电场或磁场的分布。