[发明专利]具有内部自测试的电路无效
| 申请号： | 00806480.6 | 申请日： | 2000-04-05 |
| 公开（公告）号： | CN1347503A | 公开（公告）日： | 2002-05-01 |
| 发明（设计）人： | J·诺勒斯;G·迪舍尔;W·加特纳 | 申请（专利权）人： | 因芬尼昂技术股份公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185;G01R31/3187 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 程天正,张志醒 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及具有内部自测试的电路,其中通过使用固定给出的标准接口(S1)可以为要测试的逻辑电路(LM)实现改善的测试覆盖面。为此,复合电路(1)除了直接接口(S2)以外,还具有另一个间接接口(S3),该接口将结构测试装置(ST)与功能电路(FS)连接起来。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 内部 测试 电路 | ||
【主权项】：
1、具有内部自测试的电路，其组成有：一个要测试的逻辑电路(LM)，和一个通过直接接口(S2)运行所述逻辑电路(LM)的功能电路(FS)，其中所述的功能电路(FS)具有一种标准接口(S1)以将该电路(1)与外部装置(ET)连接起来，其特征在于，一种用于对所述逻辑电路(LM)进行结构测试的结构测试装置(ST)，以及一种用于间接地运行所述逻辑电路(LM)的间接接口(S3)，其中由所述功能电路(FS)将施加在标准接口(S1)上的测试指令至少部分地传送给所述的间接接口(S3)。
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