[发明专利]具有内部自测试的电路

权利要求书

1、具有内部自测试的电路，其组成有：

一个要测试的逻辑电路(LM)，和

一个通过直接接口(S2)运行所述逻辑电路(LM)的功能电路(FS)，其中所述的功能电路(FS)具有一种标准接口(S1)以将该电路(1)与外部装置(ET)连接起来，其特征在于，

一种用于对所述逻辑电路(LM)进行结构测试的结构测试装置(ST)，以及

一种用于间接地运行所述逻辑电路(LM)的间接接口(S3)，其中由所述功能电路(FS)将施加在标准接口(S1)上的测试指令至少部分地传送给所述的间接接口(S3)。

2、按权利要求1所述的电路，

其特征在于，

所述结构测试装置(ST)在要测试的逻辑电路(LM)中具有一个扫描链(SP)和/或一些测试点(TP)。

3、按权利要求1或2所述的电路，

其特征在于，

所述结构测试装置(ST)使用了一种根据所述要测试的逻辑电路(LM)进行最佳化的向量形式的测试图形，且所述的向量被存放在所述的功能电路(FS)中。

4、按权利要求3所述的电路，

其特征在于，

所述存放在功能电路(FS)中的测试图形可通过所述的标准接口(S1)从外部测试装置(ET)装入。

5、按权利要求1或2所述的电路，

其特征在于，

所述结构测试装置(ST)具有一种测试图形发生器，用于按伪随机向量的形式产生测试图形。

6、按权利要求1至5之一所述的电路，

其特征在于，

所述功能电路(FS)具有一种功能测试装置(FT)，用于通过所述的直接接口(S2)对所述逻辑电路(LM)进行功能测试。

7、按权利要求6所述的电路，

其特征在于，

所述功能测试装置(FT)在所述结构测试装置(ST)和逻辑电路(LM)的仿真结果基础上进行功能测试。

8、按权利要求5至7之一所述的电路，

其特征在于，

所述结构测试装置的一部分(ST*)以软件的形式在所述的功能电路(FS)中实现。

9、按权利要求1至8之一所述的电路，

其特征在于，

所述要测试的逻辑电路具有许多逻辑模块(LM1、LM2、LM3)。

10、按权利要求9所述的电路，

其特征在于，

所述功能电路(FS)从所述许多逻辑模块(LM1、LM2、LM3)中选出一个或多个进行测试。

11、按权利要求1至10之一所述的电路，

其特征在于，

所述电路(1)表示为一块芯片卡上的集成电路。

12、按权利要求1至11之一所述的电路，

其特征在于，

所述标准接口表示为无接触的接口(S1*)。