[发明专利]半导体器件无效
| 申请号： | 00804146.6 | 申请日： | 2000-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN1341262A | 公开（公告）日： | 2002-03-20 |
| 发明（设计）人： | 竹村里一朗;伊藤清男;关口知纪;阪田健;木村胜高 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立制作所 |
| 主分类号： | G11C11/4091 | 分类号： | G11C11/4091 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王永刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 即便存储器阵列的电压低,读出放大器也能够高速地从存储单元读出弱信号而电力消耗很小。将用于过激励的驱动开关分散地配置在读出放大器区域内,并将用于恢复的驱动开关集中地配置在读出放大器阵列的一端。通过网状电源线供给过激励电位。每个过激励开关最初从具有比数据线的振幅电压高的电压的数据线对读出数据,实现高速读出。通过分散地配置驱动开关,能够分散读出电流并减小一端与另一端之间的读出电压差。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 | ||
【主权项】：
1.半导体器件，其特征是它具有用于将在多条数据线上从多个存储单元读出的信号在对应的上述数据线上放大到第1电压的多个读出放大器，将上述多个读出放大器的电源供给节点共通地连接起来的第1配线，用于从上述第1配线的一端供给上述第1电压的第1开关，沿上述多个读出放大器设置的，供给比上述第1电压大的第2电压的第2配线，和在上述第1配线和上述第2配线之间分布地设置的第2开关。
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