[实用新型]晶片测试装置

摘要

一种晶片测试装置,包括一底座,设有固定座,并架设导引构件;一本体架设于导引构件,依导引移动,一升降座套接于本体上下移动,一驱动元件固设于本体,校正驱动升降座上移设定距离;一置物构件固设于升降座,其定位槽内置放晶片;一检测构件设于置物构件上侧且设基板,基板设有测试座。本体上驱动元件每启动一次移动一单位距离,控制器启动驱动元件一次紧接一次动作,接收停止讯号后立刻以精确距离停止,晶片接触测试座的探针为可接受抵压接触范围,可提供精确测试。

主权项

1、一种晶片测试装置，设有驱动元件及控制器，其特征在于其主要包括：一底座，其上设有一固定座，其上架设有一导引构件；一本体，架设于该导引构件，并呈依导引方向移动的结构，一升降座套接于该本体，形成可上下移动的结构，一驱动元件固设于该本体，该驱动元件每启动一次移动一单位距离，且该驱动元件校正驱动该升降座上移动设定距离；一置物构件，固设于该升降座，其上设有一定位槽，该定位槽内置放一晶片；一检测构件，设置位于置物构件的上侧，且架设于该固定座上，该检测构件架设有一基板，该基板设有一测试座；上述结构相组合构成晶片测试装置，其本体在置物构件置放晶片，移动到测试区定位，逐次驱动该升降座逐次上升，该晶片接触基板的测试座，该升降座上升高度经一控制器储存，以作为下次启动该升降座上升高度的依据。