[实用新型]晶片测试装置

权利要求书

1、一种晶片测试装置，设有驱动元件及控制器，其特征在于其主要包括：

一底座，其上设有一固定座，其上架设有一导引构件；

一本体，架设于该导引构件，并呈依导引方向移动的结构，一升降座套接于该本体，形成可上下移动的结构，一驱动元件固设于该本体，该驱动元件每启动一次移动一单位距离，且该驱动元件校正驱动该升降座上移动设定距离；

一置物构件，固设于该升降座，其上设有一定位槽，该定位槽内置放一晶片；

一检测构件，设置位于置物构件的上侧，且架设于该固定座上，该检测构件架设有一基板，该基板设有一测试座；

上述结构相组合构成晶片测试装置，其本体在置物构件置放晶片，移动到测试区定位，逐次驱动该升降座逐次上升，该晶片接触基板的测试座，该升降座上升高度经一控制器储存，以作为下次启动该升降座上升高度的依据。

2、根据权利要求1所述的晶片测试装置，其特征在于其中所述的本体端侧设有预定数目的导杆，该导杆靠合升降座的导槽，该升降座形成依导杆导正上下移动、并不偏移的结构。

3、根据权利要求1或2所述的晶片测试装置，其特征在于其中所述的本体上设有一可阻挡升降座上移停止、避免置物构件碰击基板的限位元件。

4、根据权利要求1所述的晶片测试装置，其特征在于其中所述的固定座上设有一侦测本体移到测试区正确定位的侦测元件，该升降座上升，晶片接触基板的测试座。