[发明专利]测量光纤块的光学对准的装置和方法无效
| 申请号： | 00101129.4 | 申请日： | 2000-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN1261160A | 公开（公告）日： | 2000-07-26 |
| 发明（设计）人： | 李勇雨;张祐赫;李炯宰;李泰衡 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G02B27/34 | 分类号： | G02B27/34 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 陈霁,张志醒 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了一种测量安装在光纤块的V形槽阵列中的光纤的光学对准状况的装置和方法,所述光纤块与光波导装置的输入端或输出端相连。所公开的装置包括光源;测量单元,用于测量光源发出的光通过光纤之后从每个光纤输出的特性以及控制单元。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 光纤 光学 对准 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量安装在光纤块中的光纤的光学对准状况的装置，包括：光源；测量单元，用于测量光源发出的光通过每个光纤之后从光纤输出的特性；以及控制单元，用于根据测量单元测得的第一和最后一个光纤的特性，确定第一和最后一个光纤的各自中心位置，确定连接第一和最后一个光纤的所确定中心位置的方向，以及进行控制以便允许把光源发出的光沿着确定的方向顺序照射在其余光纤上，从而允许测量单元测量其余光纤的特性。
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