[发明专利]测量光纤块的光学对准的装置和方法

说明书

本发明涉及测量光纤块的光学对准的装置和方法，尤其涉及测量安装在光纤块的V形槽阵列中的光纤的光学对准状况的装置和方法，所述光纤块与光波导装置的输入端或输出端相连。

通常，光波导装置例如1×N分光器、波分多路复用器/多路分用器、或者光学开关中输入/输出端数目的增加，导致难以把光纤块连接到光波导装置的输入或输出端上。当然，1利用精确的照相平板印刷术，这种光波导装置中在输入或输出端处邻近波导之间的间距以及每个波导在基质上的位置的精度可以达到微米级或更小。另一方面，在光纤连接到光波导装置的输入或输出端时，要求把这些光纤分别设置在希望的位置上。然而，随着使用的光纤数目的增加，这一过程变得更为困难。为此，必须使用光纤块，其中的光纤以如下方式精确设置，即它们彼此分开的间距与光波导装置中在输入或输出端光纤之间的间距相当，精度为微米级或更小。

然而，这样的光纤块结构通过人工把单芯或多芯光纤安装在V形槽阵列中制成。由于这样的结构，当把光纤块连接到光波导装置上时它的可靠性可能降低，除非检测其中的对准状况。此外，还有一个问题，即不能找到光纤块的精确对准中心。因此，必须提供一种测量光纤块的光学对准的装置和方法。

本发明的目的在于提供一种测量光纤块的光学对准的装置和方法，其中通过如下测量步骤测量光纤块的光学对准，即测量安装在光纤块的V形槽阵列中的光纤中第一个和最后一个的特性，确定所述第一和最后一个光纤的各自位置，以及根据确定的位置测量其余光纤的特性。

根据一个方面，本发明提供了一种测量安装在光纤块中的光纤的光学对准状况的装置，包括：光源；测量单元，用于测量光源发出的光通过光纤之后从每个光纤输出的特性；以及控制单元，用于根据测量单元测得的第一和最后一个光纤的特性，确定第一和最后一个光纤的各自中心位置，确定连接第一和最后一个光纤的所确定中心位置的方向，以及进行控制以便允许把光源发出的光沿着确定的方向顺序照射在其余光纤上，从而允许测量单元测量其余光纤的特性。

根据另一方面，本发明提供了一种测量安装在光纤块中的光纤的光学对准状况的方法，包括如下步骤：把光源发出的光照射在光纤块中的第一光纤上，并以如下方式调整第一光纤的中心位置，即使得通过第一光纤的光功率最大；把光源发出的光照射在最后一个光纤上，并以如下方式调整最后一个光纤的中心位置，即使得通过最后一个光纤的光功率最大；以及确定连接第一和最后一个光纤的经调整的中心位置的方向，并把光源发出的光沿着确定的方向顺序照射在光纤块中的其余光纤上，同时测量其余光纤输出光的各自功率，从而检测其余光纤的各自对准状况，并进行控制以便允许把光源发出的光照射在其余光纤上，从而允许测量单元测量确定方向上其余光纤的特性。

根据另一方面，本发明提供了一种测量安装在光纤块中的光纤的光学对准状况的方法，包括如下步骤：把光源发出的光照射在光纤块中的第一光纤上，并以如下方式调整第一光纤的中心位置，即使得通过第一光纤的光的强度最大；把光源发出的光照射在最后一个光纤上，并以如下方式调整最后一个光纤的中心位置，即使得通过最后一个光纤的光的强度最大；以及确定连接第一和最后一个光纤的经调整的中心位置的方向，并把光源发出的光沿着确定的方向顺序照射在光纤块中的其余光纤上，同时测量其余光纤输出光的各自强度，从而检测其余光纤的各自对准状况，并进行控制以便允许把光源发出的光照射在其余光纤上，从而允许测量单元测量确定方向上其余光纤的特性。

通过下面参考附图详细描述最佳实施例，本发明的上述目的和其他优点将变得更清楚，其中：

图1是描述根据本发明的测量光纤块的光学对准的装置的方块图；

图2是描述图1所示光聚焦单元的结构的截面图；

图3是描述光纤块端面的视图；以及

图4是描述根据本发明的测量光纤块的光学对准的方法的流程图。

下面，将结合附图详细描述本发明的最佳实施例。

图1是描述根据本发明的测量光纤块的光学对准的装置的方块图。如图1所示，该测量装置包括光源100、光聚焦单元102、第一移动装置104、安装有多个光纤106的V形槽阵列108、第二移动装置110、测量单元112、以及控制单元114。