[发明专利]测量光纤块的光学对准的装置和方法

权利要求书

1.一种测量安装在光纤块中的光纤的光学对准状况的装置，包括：

光源；

测量单元，用于测量光源发出的光通过每个光纤之后从光纤输出的特性；以及

控制单元，用于根据测量单元测得的第一和最后一个光纤的特性，确定第一和最后一个光纤的各自中心位置，确定连接第一和最后一个光纤的所确定中心位置的方向，以及进行控制以便允许把光源发出的光沿着确定的方向顺序照射在其余光纤上，从而允许测量单元测量其余光纤的特性。

2.根据权利要求1所述的装置，其中所述测量单元是用于测量每个光纤输出的光功率的光功率计。

3.根据权利要求1所述的装置，其中所述测量单元是用于测量每个光纤输出的光的模式尺寸或者强度的电荷耦合器件。

4.根据权利要求1所述的装置，还包括

光聚焦单元，用于在控制单元的控制下，把光源发出的光聚焦并把经聚焦的光照射在光纤块内的一个选定的光纤上。

5.一种测量安装在光纤块中的光纤的光学对准状况的方法，包括如下步骤：

把光源发出的光照射在光纤块中的第一光纤上，并以如下方式调整第一光纤的中心位置，即使得通过第一光纤的光功率最大；

把光源发出的光照射在最后一个光纤上，并以如下方式调整最后一个光纤的中心位置，即使得通过最后一个光纤的光功率最大；以及

确定连接第一和最后一个光纤的经调整的中心位置的方向，并把光源发出的光沿着确定的方向顺序照射在光纤块中的其余光纤上，同时测量其余光纤输出光的各自功率，从而检查其余光纤的各自对准状况，并进行控制以便允许把光源发出的光照射在其余光纤上，从而允许测量单元测量确定方向上其余光纤的特性。

6.一种测量安装在光纤块中的光纤的光学对准状况的方法，包括如下步骤：

把光源发出的光照射在光纤块中的第一光纤上，并以如下方式调整第一光纤的中心位置，即使得通过第一光纤的光的强度最大；

把光源发出的光照射在最后一个光纤上，并以如下方式调整最后一个光纤的中心位置，即使得通过最后一个光纤的光的强度最大；以及

确定连接第一和最后一个光纤的经调整的中心位置的方向，并把光源发出的光沿着确定的方向顺序照射在光纤块中的其余光纤上，同时测量其余光纤输出光的各自强度，从而检测其余光纤的各自对准状况，并进行控制以便允许把光源发出的光照射在其余光纤上，从而允许测量单元测量确定方向上其余光纤的特性。