[实用新型]内联叠层非晶硅光电池无效
| 申请号: | 99244708.9 | 申请日: | 1999-09-14 |
| 公开(公告)号: | CN2390280Y | 公开(公告)日: | 2000-08-02 |
| 发明(设计)人: | 廖显伯;何承义;邵明;贾岭 | 申请(专利权)人: | 珠海道元科技发展有限公司 |
| 主分类号: | H01L31/04 | 分类号: | H01L31/04 |
| 代理公司: | 三高专利事务所 | 代理人: | 胡湘根 |
| 地址: | 519070 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 内联 叠层非晶硅 光电池 | ||
本实用新型涉及一种内联叠层非晶硅光电池,属于光电池的技术领域。
现有的内联弱光型非晶硅光电池,其有源工作层为非晶硅单结P-I-N型结构,对阳光或荧光吸收并不充分,能量转换效率低,光电池的串联内阻较大,只能适用于弱光的条件,而且在强光条件下,光致退化效应较为严重。
现有的内联强光型非晶硅光电池,不管其有源工作层为单结或多结的叠层非晶硅二极管结构,其背电极均采用铝膜。由于制造工艺不够完善,使光电池的性能不稳定,而且外观一致性差。
本实用新型的目的是要提供一种内联叠层非晶硅光电池,它可以克服上述的缺点,其导电极采用导电浆料制成,使导电性能稳定,外观一致性良好;非晶硅层采用双结非晶硅P1-I1-N1/P2-I2-N2型叠层结构,能量转换效率高,输出电压也提高,可以在强光条件下使用,光致退化效应小,而且光电池成本低,易于制造。
本实用新型的目的是这样实现的:
一种内联叠层非晶硅光电池,其特征在于在玻璃基底(1)的表面溅射沉积透明导电膜(2),再覆盖一层双结叠层型非晶硅薄膜(3),背电极(4)覆盖于非晶硅薄膜(3)上。透明电极(2)之间有隔离沟道A,非晶硅薄膜(3)之间有隔离沟道(C),透明电极(2)沟道A与非晶硅层(3)的沟道(C)之间的平移距离为B。背电极(4)之间的沟道为(E),与非晶硅薄膜层(3)沟道C相距为D,由此形成透明电极(2),非晶硅层(3)和背电极(4)三层的三条相互错位的串联结构。背电极(4)左边的窄条形,形成电池引出的正电极,而右边一块背电极构成引出的负电极。
非晶硅薄膜层(3)是双结叠层P1-I1-N1/P2-I2-N2的结构,其中P1P2为非晶硅碳层a-SiCx:H,I1层为未掺杂宽带隙非晶硅层a-Si:H,N1N2为N型a-Si:H,I2层为未掺杂窄带隙非晶硅锗层a-SiGex:H(x=0-0.5。
背电极(4)由导电浆料,如导电碳膏、银浆、铜浆制成。
非晶硅薄膜层(3)的沟道宽度不大于0.4mm。
图1 非晶硅光电池剖视图;
图2 非晶硅光电池俯视图;
图3 一节电池的剖视图;
图4 透明电极示意图;
图5 光电池的非晶硅层示意图;
图6 背电极示意图。
兹结合附图对内联叠层型非晶硅光电池的结构详细叙述:
由图1、2,玻璃基底(1)是由厚度为1.1mm的超薄玻璃制成,其几何尺寸为数平方厘米面积,例如为12×30mm2,在该玻璃基底(1)的表面溅射沉积一层ITO透明导电膜的透明电极(2),其厚度为20-60nm,使用蚀刻工艺方法,才将这层透明导电膜制成透明电极(2),它可保证各单元电极之间电气绝缘,然后利用辉光放电法沉积PIN/PIN双结叠层型非晶硅薄膜(3),总厚度约为0.5μm,再使用激光在非晶硅薄膜(3)上刻出直线透明沟道(图1),宽度为0.15mm,导电浆料的背电极(4)是用丝印方法加在非晶硅薄膜(3)上,使背电极(4)覆盖于非晶硅薄膜(5)的沟道(E)上,保证单元背电极间电气绝缘,由此组成一内联叠层非晶硅光电池。最后在基片上印上保护漆、字符,引出电极就得到成品。
图1和图2是表示四节电池互相串联的结构,前一节电池的背电极(4)与后一节电池的透明电极(2)连接,其中透明电极(2)的隔离沟道A与非晶硅隔离沟道(C)之间的平移间隔为B,非晶硅(3)的隔离沟道(C)与背电极(4)的隔离沟道E之间的平移间隔为D。
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