[发明专利]混合模拟-数字集成电路及其制作方法无效

专利信息
申请号: 98102320.7 申请日: 1998-06-02
公开(公告)号: CN1201261A 公开(公告)日: 1998-12-09
发明(设计)人: 山口基 申请(专利权)人: 日本电气株式会社
主分类号: H01L27/04 分类号: H01L27/04
代理公司: 中科专利代理有限责任公司 代理人: 刘晓峰
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 混合 模拟 数字集成电路 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一个采用在一个基片绝缘层之上具有有源半导体层的SOI基片的混合模拟—数字集成电路,其特征在于一个模拟电路模块和一个数字电路模块构造在所述有源半导体层内,而用于隔开所述有源半导体层并且到达所述基片绝缘层的一个模块间绝缘膜是形成在两个模块之间。

2.根据权利要求1所述的混合模拟—数字集成电路,其特征在于所述模拟电路模块包括一组具有不同电源电压的模拟电路模块,而这些具有不同电源电压的模拟电路模块还通过一个模块间绝缘膜彼此绝缘。

3.根据权利要求1所述的混合模拟—数字集成电路,其特征在于所述数字电路模块包括一个易于产生数字噪声的数字电路模块和另一个数字电路模块,而这些模块还通过一个模块间绝缘膜彼此绝缘。

4.根据权利要求1所述的混合模拟—数字集成电路,其特征在于所述数字电路模块包括一个敏感数字噪声的数字电路模块和另一个数字电路模块,而这些模块还通过一个模块间绝缘膜彼此绝缘。

5.根据权利要求1所述的混合模拟—数字集成电路,其特征在于一个P-型MOS场效应晶体管组和一个N-型MOS场效应晶体管组是通过一个模块间绝缘膜彼此绝缘。

6.根据权利要求2所述的混合模拟—数字集成电路,其特征在于一个P-型MOS场效应晶体管组和一个N-型MOS场效应晶体管组是通过一个模块间绝缘膜彼此绝缘。

7.根据权利要求3所述的混合模拟—数字集成电路,其特征在于一个P-型MOS场效应晶体管组和一个N-型MOS场效应晶体管组是通过一个模块间绝缘膜彼此绝缘。

8.根据权利要求4所述的混合模拟—数字集成电路,其特征在于一个P-型MOS场效应晶体管组和一个N-型MOS场效应晶体管组是通过一个模块间绝缘膜彼此绝缘。

9.根据权利要求1所述的混合模拟—数字集成电路,其特征在于每个都具有一个公共基片布线端的两个或更多的元件组是通过一个模块间绝缘膜彼此绝缘。

10.根据权利要求2所述的混合模拟—数字集成电路,其特征在于每个都具有一个公共基片布线端的两个或更多的元件组是通过一个模块间绝缘膜彼此绝缘。

11.根据权利要求3所述的混合模拟—数字集成电路,其特征在于每个都具有一个公共基片布线端的两个或更多的元件组是通过一个模块间绝缘膜彼此绝缘。

12.根据权利要求4所述的混合模拟—数字集成电路,其特征在于每个都具有一个公共基片布线端的两个或更多的元件组是通过一个模块间绝缘膜彼此绝缘。

13.一个制造如权利要求1所述的混合模拟—数字集成电路的过程,其特征在于包括下列步骤:

形成半导体元件,它被在SOI基片上的有源半导体层内分为后面所述的模块;

蚀刻有源半导体层以去除期望的部分;

填充一种绝缘体到蚀刻形成的空腔并且接着弄平该表面以便于形成一个层间绝缘膜;以及

形成层间绝缘膜和进行电连接。

14.一个制造如权利要求2所述的混合模拟—数字集成电路的过程包括下列步骤:

形成半导体元件,它被在SOI基片上的有源半导体层内分为后面所述的模块;

蚀刻有源半导体层以去除期望的部分;

填充一种绝缘体到蚀刻形成的空腔并且接着弄平该表面以便于形成一个层间绝缘膜;以及

形成层间绝缘膜和进行电连接。

15.一个制造如权利要求3所述的混合模拟—数字集成电路的过程,其特征在于包括下列步骤:

形成半导体元件,它被在SOI基片上的有源半导体层内分为后面所述的模块;

蚀刻有源半导体层以去除期望的部分;

填充一种绝缘体到蚀刻形成的空腔并且接着弄平该表面以便于形成一个层间绝缘膜;以及

形成层间绝缘膜和进行电连接。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日本电气株式会社,未经日本电气株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/98102320.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top