[发明专利]混合模拟-数字集成电路及其制作方法无效
| 申请号: | 98102320.7 | 申请日: | 1998-06-02 |
| 公开(公告)号: | CN1201261A | 公开(公告)日: | 1998-12-09 |
| 发明(设计)人: | 山口基 | 申请(专利权)人: | 日本电气株式会社 |
| 主分类号: | H01L27/04 | 分类号: | H01L27/04 |
| 代理公司: | 中科专利代理有限责任公司 | 代理人: | 刘晓峰 |
| 地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 混合 模拟 数字集成电路 及其 制作方法 | ||
1.一个采用在一个基片绝缘层之上具有有源半导体层的SOI基片的混合模拟—数字集成电路,其特征在于一个模拟电路模块和一个数字电路模块构造在所述有源半导体层内,而用于隔开所述有源半导体层并且到达所述基片绝缘层的一个模块间绝缘膜是形成在两个模块之间。
2.根据权利要求1所述的混合模拟—数字集成电路,其特征在于所述模拟电路模块包括一组具有不同电源电压的模拟电路模块,而这些具有不同电源电压的模拟电路模块还通过一个模块间绝缘膜彼此绝缘。
3.根据权利要求1所述的混合模拟—数字集成电路,其特征在于所述数字电路模块包括一个易于产生数字噪声的数字电路模块和另一个数字电路模块,而这些模块还通过一个模块间绝缘膜彼此绝缘。
4.根据权利要求1所述的混合模拟—数字集成电路,其特征在于所述数字电路模块包括一个敏感数字噪声的数字电路模块和另一个数字电路模块,而这些模块还通过一个模块间绝缘膜彼此绝缘。
5.根据权利要求1所述的混合模拟—数字集成电路,其特征在于一个P-型MOS场效应晶体管组和一个N-型MOS场效应晶体管组是通过一个模块间绝缘膜彼此绝缘。
6.根据权利要求2所述的混合模拟—数字集成电路,其特征在于一个P-型MOS场效应晶体管组和一个N-型MOS场效应晶体管组是通过一个模块间绝缘膜彼此绝缘。
7.根据权利要求3所述的混合模拟—数字集成电路,其特征在于一个P-型MOS场效应晶体管组和一个N-型MOS场效应晶体管组是通过一个模块间绝缘膜彼此绝缘。
8.根据权利要求4所述的混合模拟—数字集成电路,其特征在于一个P-型MOS场效应晶体管组和一个N-型MOS场效应晶体管组是通过一个模块间绝缘膜彼此绝缘。
9.根据权利要求1所述的混合模拟—数字集成电路,其特征在于每个都具有一个公共基片布线端的两个或更多的元件组是通过一个模块间绝缘膜彼此绝缘。
10.根据权利要求2所述的混合模拟—数字集成电路,其特征在于每个都具有一个公共基片布线端的两个或更多的元件组是通过一个模块间绝缘膜彼此绝缘。
11.根据权利要求3所述的混合模拟—数字集成电路,其特征在于每个都具有一个公共基片布线端的两个或更多的元件组是通过一个模块间绝缘膜彼此绝缘。
12.根据权利要求4所述的混合模拟—数字集成电路,其特征在于每个都具有一个公共基片布线端的两个或更多的元件组是通过一个模块间绝缘膜彼此绝缘。
13.一个制造如权利要求1所述的混合模拟—数字集成电路的过程,其特征在于包括下列步骤:
形成半导体元件,它被在SOI基片上的有源半导体层内分为后面所述的模块;
蚀刻有源半导体层以去除期望的部分;
填充一种绝缘体到蚀刻形成的空腔并且接着弄平该表面以便于形成一个层间绝缘膜;以及
形成层间绝缘膜和进行电连接。
14.一个制造如权利要求2所述的混合模拟—数字集成电路的过程包括下列步骤:
形成半导体元件,它被在SOI基片上的有源半导体层内分为后面所述的模块;
蚀刻有源半导体层以去除期望的部分;
填充一种绝缘体到蚀刻形成的空腔并且接着弄平该表面以便于形成一个层间绝缘膜;以及
形成层间绝缘膜和进行电连接。
15.一个制造如权利要求3所述的混合模拟—数字集成电路的过程,其特征在于包括下列步骤:
形成半导体元件,它被在SOI基片上的有源半导体层内分为后面所述的模块;
蚀刻有源半导体层以去除期望的部分;
填充一种绝缘体到蚀刻形成的空腔并且接着弄平该表面以便于形成一个层间绝缘膜;以及
形成层间绝缘膜和进行电连接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日本电气株式会社,未经日本电气株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/98102320.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





