[实用新型]单片机数字集成电路测试仪

说明书

本实用新型属于电子测量设备类，是一种数字集成电路逻辑功能测试仪。

随着集成电路技术的发展，数字集成电路取得了越来越广泛的应用，迅速而方便地判断一个数字集成电路逻辑功能的好环是每一位电子工作者所希望的。目前，这种集成电路测试仪都体积较大，价格数千元以上，不便于携带，如市售数字集成电路测试仪ICT－901型；必须将被测芯片带到仪器所在地测试，因此，不能象万用表一样普及。

本实用新型的目的就是针对上述不足而设计制造了一种小巧轻便的数字集成电路逻辑功能测试仪，采用单片机技术使得整个仪器的体积与价格均与普通数字万用表相当。

本实用新型由单片机，程序存储器，测试插座，I／O接口电路，译码接口电路及键盘与显示电路组成。仪器使用时，操作者将被测芯片插入测试插座，然后通过键盘将测试命令送入单片机，单片机跟据测试命令从程序存储器中取出相应的测试集送到被测芯片的输入端，同时将被测芯片的输出取回到单片机，在单片机中与预期的结果进行比较，如相等说明功能正常，如不相等说明功能异常，并将结果送显示器显示。

下面结合附图对本实用新型的实施例作进一步描述。

附图即本实用新型电原理图。

本实用新型由单片机8031（1），译码接口电路GAL16V8（2），低位地址锁存电路74LS374（3），程序存储器EPROM27256（4），I／O接口电路Z80－PIO（5），IC测试插座（6），供电电路两个三极管（7）及键盘与显示电路（8）构成。单片机8031（1）是主计算机，控制整个仪器的工作，GAL16V8（2）用于8031（1）的程序存储器及外设的地址译码器。锁存器74LS373（3）用于锁存8031（1）输出的低八位地址，EPROM27256（4）用于存储工作程序及测试集，Z80－PIO（5）用于测试接口及键盘与显示接口，测试插座（6）用于插放被测芯片，供电电路（7）用于为16脚及14脚被测芯片提供电源，键盘与显示电路（8）用于输入测试命令及显示测试命令及测试结果。

当仪器工作时，8031（1）通过GAL16V8（2），74LS373（3）从EPROM27256（4）中取出工作程序并根据工作程序通过Z80－PIO（5）对键盘与显示电路（8）进行扫描，并将用户测试命令取回到8031（1），同时通过8031（1）数据总线将测试命令送键盘与显示电路（8）显示。然后，8031（1）根据测试命令从EPROM27256（4）中取出相应的测试集分别通过Z80－PIO（5）及8031（1）的P1口及P3口送到测试插座（6），然后通过Z80－PIO（5）及8031（1）的P1口及P3口将测试结果取回8031（1）进行判断，并通过键盘与显示电路（8）将测试结果显示出来。

主计算机8031（1）通过四个并行口P1，P2，P3，P4口及控制线分别与译码电路GAL16V8（2），低位地址锁存器74LS373（3），程序存储器EPROM27256（4），I／O接口电路Z80－PIO（5），测试插座（6），供电电路（7）及键盘与显示电路（8）相连。74LS373（3）通过其输出分别与EPROM27256（4），GAL16V8（2）及Z80－PIO（5）相连。GAL16V8（2）通过其译码输出分别与EPROM27256（4），Z80－PIO（5）及键盘与显示电路（8）相连。Z80－PIO（5）输出口分别与测试插座（6）及键盘与显示电路（8）相连。

本实用新型小巧轻便，易于携带，操作方便，其体积与价格均与一台普通数字万用表相当，因此可以做到人手一台，极易普及。