[实用新型]单片机数字集成电路测试仪无效

专利信息
申请号: 93200756.2 申请日: 1993-01-08
公开(公告)号: CN2153807Y 公开(公告)日: 1994-01-19
发明(设计)人: 朱梅;黄宇星 申请(专利权)人: 朱梅;黄宇星
主分类号: G01R31/318 分类号: G01R31/318
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 710054 陕西省西安*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 单片机 数字集成电路 测试仪
【权利要求书】:

1、一种单片机数字集成电路测试仪,包括单片机,程序存储器,测试插座,I/O接口电路,译码接口电路,供电电路,键盘与显示电路,其特征在于:单片机8031是主计算机,控制整个仪器的工作,程序存储器EPROM27256用于存储工作程序及测试集,测试插座用于插放被测芯片,I/O接口电路Z80-PIO用于测试接口及键盘与显示接口,译码接口电路GAL16V8用于产生地址译码,供电电路两个三极管用于为16脚及14脚被测芯片提供电源,键盘与显示电路用于输入测试命令及显示测试命令与测试结果,单片机通过四个并行口及控制线将各部分连接起来。

2、根据权利要求1所述的测试仪,其特征在于测试插座分别与单片机8031的P1口,P3口,供电电路及Z80-PIO连接。

3、根据权利要求1所述的测试仪,其特征在于单片机8031通过P0口,P2口,P3口分别与EPROM27256,Z80-PIO,GAL16V8,供电电路及键盘与显示电路连接。

4、根据权利要求1所述的测试仪,其特征在于GAL16V8通过其输出分别与Z80-PIO,EPROM27256及键盘与显示电路连接。

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