[发明专利]集束微电极腐蚀电化学测量方法与装置无效
| 申请号： | 89101808.5 | 申请日： | 1989-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN1015742B | 公开（公告）日： | 1992-03-04 |
| 发明（设计）人： | 于朴;王旷;张文奇 | 申请（专利权）人： | 北京科技大学 |
| 主分类号： | G01N27/416 | 分类号： | G01N27/416 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 北京市学*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 集束 微电极 腐蚀 电化学 测量方法 装置 | ||
【权利要求书】：
1、一种测量腐蚀样品表面电位分布与电流分布的电化学方法。用微电极快速测量样品表面不同位置上的相对电位值，其特征在于：由100～400支/cm2微电极按一定顺序组成微电极束，通过计算机发出采集控制命令，对位于不同位置的微电极采集数据，最后将采集到的数据直接输入计算机进行分析处理。
2、一种用于腐蚀样品表面电位分布与电流分布的测量装置，主要包括计算机〔1〕，多通道采集系统〔2〕，电压跟随器装置〔3〕及集束微电极探头〔4〕。四个部分，其特征在于〔4〕与〔3〕的输入端相连，〔3〕的输出端与〔2〕的输入端相连，〔2〕的输出与〔1〕相连。此外还包括为计算机〔1〕和多通道采集系统〔2〕提供动力的交流稳压电源〔5〕，它同〔1〕、〔2〕相连;为电压跟随器〔3〕提供动力的直流稳压电源〔6〕，它同〔3〕相连，以及与集束微电极探头〔4〕相连的微电极探头位置调节器〔7〕三个附属装置。
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