[发明专利]三羟甲基甲胺(TAM)晶体与生长方法及在X射线光谱仪中的应用无效
| 申请号: | 85107621.1 | 申请日: | 1985-10-10 |
| 公开(公告)号: | CN1003946B | 公开(公告)日: | 1989-04-19 |
| 发明(设计)人: | 苏根博;李征东;黄躬泛 | 申请(专利权)人: | 中国科学院福建物质结构研究所 |
| 主分类号: | C30B29/54 | 分类号: | C30B29/54;C30B7/04 |
| 代理公司: | 中国科学院福建物质结构研究所专利代理处 | 代理人: | 何小星 |
| 地址: | 福建省福*** | 国省代码: | 福建;35 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 甲基 tam 晶体 生长 方法 射线 光谱仪 中的 应用 | ||
1、一种水溶液生长三羟甲基甲胺晶体的方法,生长过程按一定程序配料、下籽晶、降温生长、本发明的特征在于:
(1)晶体生长所用熔剂为水;
(2)按TAM的溶解度-温度表示式St=11.0+2.18t配制饱和溶液;生长温度区间为60℃-40℃至室温,
(3)籽晶采用外形完整的小晶体或从晶体中切割出长1-2cm的条状籽晶;
(4)晶体生长过程中,晶体转速为30转/分;
2、据权利要求1所说的晶体生长方法,其特征在于所用的水是一次蒸馏水。
3、据权利要求1的方法,其特征在于所用的水是二次蒸馏水。
4、据权利要求1,2所说的晶体生长方法,其特征在于配制饱和溶液所用的TAM试剂是化学纯级。
5、据权利要求1~3的方法,其特征在于配制饱和溶液所用的TAM试剂是分析纯级。
6、据权利要求1~3的方法,其特征在于配制饱和溶液所用的TAM试剂是光谱纯级。
7、据权利要求3所说的晶体生长方法,其特征在于籽晶较佳取向为平行X轴方向。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院福建物质结构研究所,未经中国科学院福建物质结构研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/85107621.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:渗硼用胶膜
- 下一篇:多源型平面磁控溅射源





