[发明专利]探测方法、探测设备及计算机可读存储介质

说明书

本申请提供一种探测方法、探测设备及计算机可读存储介质，涉及激光雷达技术领域，该方法包括：根据确定的驱动电压对滤光组件进行驱动；接收由所述滤光组件过滤后得到的反射光；对所述反射光进行分析，得到所述反射光的至少一个特征参数；根据所述反射光的至少一个特征参数，确定是否基于所述驱动电压进行探测。在本申请提供的技术方案中，通过预先获取温度数据，并根据温度数据调整用于驱动滤光组件的驱动电压，使得由出射光所形成的反射光可以更多地通过滤光组件，从而可以通过更多的反射光进行探测，进而可以提高探测设备进行探测的准确性。

技术领域

本申请涉及激光雷达技术领域，尤其涉及一种探测方法、探测设备及计算机可读存储介质。

背景技术

随着雷达技术的不断发展，激光雷达以准确度高和抗干扰能力强等优势逐渐应用在多个方面，通过向被探测物体发射激光，并接收被探测物体所反射的激光，从而可以准确得到被探测物体的相关信息。

相关技术中，激光雷达可以包括：发光模组、接收模组和处理器，接收模组中可以包括滤光片。相应的，处理器可以控制发光模组发射激光，并通过滤光片过滤后，接收反射后的激光，则处理器可以根据发射的激光和反射后的激光，确定被探测物体的相关信息。

但是，受到环境温度的影响，发光模组处于不同环境时可能具有不同的温度，而不同的温度可能会引起发光模组的温度漂移，导致滤光片无法准确过滤得到反射的激光，进而影响激光雷达的准确性。

发明内容

本申请提供一种探测方法、探测设备及计算机可读存储介质，解决了现有技术中受到环境温度的影响，发光模组处于不同环境时可能具有不同的温度，而不同的温度可能会引起发光模组的温度漂移，导致滤光片无法准确过滤得到反射的激光，进而影响激光雷达的准确性的问题。

为达到上述目的，本申请采用如下技术方案：

第一方面，提供一种探测方法，所述方法包括：

根据确定的驱动电压对滤光组件进行驱动；

接收由所述滤光组件过滤后得到的反射光；

对所述反射光进行分析，得到所述反射光的至少一个特征参数；

根据所述反射光的至少一个特征参数，确定是否基于所述驱动电压进行探测。

可选的，所述根据所述反射光的至少一个特征参数，确定是否基于所述驱动电压进行探测，包括：

根据反射光的至少一个特征参数，与预先设置的至少一个标准参数进行比较，得到所述特征参数与所述标准参数之间的比较结果；

根据所述比较结果，确定是否基于所述驱动电压进行探测。

可选的，所述根据所述比较结果，确定是否基于所述驱动电压进行探测，包括：

若所述比较结果指示无法最大化接收由出射光所形成的反射光，则再次对所述驱动电压进行调整；

若所述比较结果指示能够最大化接收由出射光所形成的反射光，则基于所述驱动电压进行探测。

可选的，在所述根据确定的驱动电压对滤光组件进行驱动之前，所述方法还包括：

获取温度数据，所述温度数据用于表示激光器当前对应的温度；

根据所述温度数据，确定用于驱动滤光组件的驱动电压。

可选的，所述根据所述温度数据，确定激光波长所对应的驱动电压，包括：

根据所述温度数据，结合预先设置的第一对应关系，确定所述温度数据所对应的激光波长，所述激光波长为出射光对应的波长；

根据所述激光波长，结合预先设置的第二对应关系，确定所述激光波长所对应的所述驱动电压。