[发明专利]一种单一图像采集卡支持多芯片并行测试的方法及装置

说明书

本发明提出了一种单一图像采集卡支持多芯片并行测试的方法及装置，包括以下步骤：通过图像采集卡采集两个CIS的图像数据；传输两个CIS的图像数据，通过时钟源校正同步两个CIS的传输时刻；将两个CIS的图像数据传输至工作站；分别对两个CIS的图像数据进行测试。通过同时采集两个CIS的图像数据，并且利用时钟源校正同步图像数据的传输时刻，使得传输两个CIS的图像数据的时间与传输一个CIS图像数据的时间一样，节省成本的同时，不提高花费的时间。

技术领域

本发明涉及图像传感器的芯片及晶圆测试技术领域，尤其涉及一种单一图像采集卡支持多芯片并行测试的方法及装置。

背景技术

目前的CIS（即图像传感器CMOS Image Sensor）的生产测试系统，对CIS芯片的加载、载出、对位、数字直流测试或者成像质量的判定与分级，均依赖计算机控制来实现。随着产能需求的不断增加，对高并测测试的CIS测试系统的需求也不断增加。传统的CIS芯片测试是每一个CIS配备一个图像采集卡，图像采集卡与工作站对应连接，即CIS与图像采集卡的数量是一一对应的，即32并测需要32个图像采集卡，依此类推；这样会产生一个问题，如果并测的CIS芯片很多，则工作站的硬件设备、所占空间会不断增加，需要非常大的实体空间，以及繁杂的线束，非常不利于后期的维护管理和故障排查。

中国专利CN116027181A《一种并行图像处理装置及方法》公开了一种并行图像处理方法，根据并行测试单元接收并储存的图像数据对CIS芯片进行数字直流测试或者图像输出测试。该专利中的影像采撷卡与CIS芯片是一一对应的，即一个CIS配备一个影像采撷卡，并且与一个工作站对应连接，但是在工作站和影像采撷卡不足，且需要在不提高成本的情况下完成测试任务时，上述方法则无法完成测试任务，因此需要对处理方法进行改进，通过时间源对齐使得一个影像采撷卡能够配置两个CIS，且同时只占用一个工作站，在不提高成本的同时也不增加测试时间，提高测试效率。

发明内容

有鉴于此，本发明提出了一种单一图像采集卡支持多芯片并行测试的方法及装置，通过将两个图像采集卡集成为一张图像采集卡，实现单一图像采集卡对两个CIS进行并行测试，且同时只占用一个工作站，在降低测试成本的同时还不会提高测试的时间，提高了测试效率，解决了目前图像传感器芯片在控制成本的情况下，仅支持一对一测试的问题。

本发明的技术方案是这样实现的：一方面，本发明提供了一种单一图像采集卡支持多芯片并行测试的方法，包括以下步骤：

S1，通过图像采集卡采集两个CIS的图像数据；

S2，传输两个CIS的图像数据，通过时钟源校正同步两个CIS的传输时刻；

S3，将两个CIS的图像数据传输至工作站；

S4，分别对两个CIS的图像数据进行测试。

优选的，步骤S1包括：

所述图像采集卡包括两个MIPI PHY芯片、两个MIPI CSI2芯片、两个RAM存储器和两个高速传输接口。

优选的，步骤S2包括：

S21，在两个CIS之间接入时钟源，同步时钟源到两个CIS之间的控制总线；

S22，使用时钟源到两个CIS之间的两个不同的数据引脚SDA1和SDA2检查是否有ACK信号，有则表示数据发送成功，完成两个CIS的图像数据的同步传输。

优选的，步骤S3包括：

S31，将两个CIS的图像数据传输至RAM存储器，记为Image1和Image2；

S32，RAM存储器同步接收到Image1和Image2后，发送至高速传输接口，所述高速传输接口将Image1和Image2传输至工作站，对Image1和Image2分别进行测试。