[发明专利]一种单一图像采集卡支持多芯片并行测试的方法及装置

权利要求书

1.一种单一图像采集卡支持多芯片并行测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1，通过图像采集卡采集两个CIS的图像数据；

步骤S1包括：

所述图像采集卡包括两个MIPI PHY芯片、两个MIPI CSI2芯片、两个RAM存储器和两个高速传输接口；

S2，传输两个CIS的图像数据，通过时钟源校正同步两个CIS的传输时刻；

步骤S2包括：

S21，在两个CIS之间接入时钟源，同步时钟源到两个CIS之间的控制总线；

S22，使用时钟源到两个CIS之间的两个不同的数据引脚SDA1和SDA2检查是否有ACK信号，有则表示数据发送成功，完成两个CIS的图像数据的同步传输；

S3，将两个CIS的图像数据传输至工作站；

所述步骤S3包括：

S31，将两个CIS的图像数据传输至RAM存储器，记为Image1和Image2；

S32，RAM存储器同步接收到Image1和Image2后，发送至高速传输接口，所述高速传输接口将Image1和Image2传输至工作站，对Image1和Image2分别进行测试；

所述步骤S31包括：

S311，所述MIPI CSI2芯片以DMA方式分别将Image1和Image2传输至RAM存储器，控制传输时间与单独传输Image1或Image2相同，将传输时间记为t₁；

S312，Image1和Image2图像数据以m×n字节表示，m和n为正整数；

所述步骤S32包括：

S321，所述Image1和Image2发送至高速传输接口之前，先传输至两个FIFO存储器；

S322，所述两个FIFO存储器布置区域靠近，分别接收Image1和Image2，且两个FIFO存储器在同一时刻被Image1和Image2占用，所述FIFO存储器的大小取决于Image1和Image2图像数据的大小；

S4，分别对两个CIS的图像数据进行测试；

所述步骤S4包括：

S41，所述工作站对两个CIS的图像数据分别进行测试，测试时间为单独测试两个CIS的图像数据的时间的总和，将测试时间记为t₂；

S42，计算图像采集卡对两个CIS测试花费的总时间以及总成本，与图像采集卡对单个CIS测试花费的总时间以及总成本比较，求出所花费的时间以及成本的变化：

，

其中，为对两个CIS进行测试时，图像采集卡同时测试两个CIS和分别测试两个CIS相对的优化指数，t₁为MIPI CSI2芯片以DMA方式分别将Image1和Image2传输至RAM存储器的传输时间，t₂为工作站对两个CIS的图像数据分别进行测试的时间之和，为图像采集卡对单个CIS测试时，将图像数据传输至RAM存储器的传输时间，为图像采集卡对单个CIS测试时，工作站对CIS的图像数据进行测试的时间，S为图像采集卡对两个CIS测试花费的总成本，为图像采集卡对单个CIS测试花费的总成本。